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德國(guó)KD涂層測(cè)厚儀PC-LEPTOSKOP 2050
產(chǎn)品型號(hào)： PC-LEPTOSKOP 2050 品 牌： 德國(guó)KD 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2024-09-23 詳細(xì)信息德國(guó)KD涂層測(cè)厚儀PC-LEPTOSKOP 2050
產(chǎn)品介紹
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測(cè)厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測(cè)厚儀的功能均可通過(guò)與WINDOWS操作系統(tǒng)匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來(lái)實(shí)現(xiàn)。
當(dāng)啟動(dòng)statwin 2002時(shí)，一個(gè)真實(shí)的涂層測(cè)厚儀顯示圖像就可以顯示在個(gè)人電腦的屏幕上。所有功能操作只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)或鍵盤(pán)。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲(chǔ)存和管理幾乎任何數(shù)量的測(cè)量數(shù)據(jù)。文件和歸檔幾乎是無(wú)限的。 此外，該軟件附帶了大量的統(tǒng)計(jì)功能，可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量評(píng)估和批次。
除了有測(cè)量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電層涂層的厚度（如非鐵金屬上的漆層），測(cè)量范圍到1200 μ m的標(biāo)準(zhǔn)探頭，我們還有特殊高精度的、能測(cè)量不同的小部位或復(fù)雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測(cè)量厚度高達(dá)12.5mm，我們同時(shí)還提供完整的配件。
為固定測(cè)試有特別的設(shè)計(jì)， PC-leptoskop 2050是一個(gè)一流的膜層測(cè)厚儀。
應(yīng)用實(shí)例為
PC-leptoskop 2050：
筆記型電腦與個(gè)人電腦軟件statwin 2002 ，
電腦微型探頭和定位裝置
訂貨信息
STATWIN 2002 電腦軟件 2904.001
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0
德國(guó)KD涂層測(cè)厚儀PC-LEPTOSKOP 2050 探頭，測(cè)量范圍和訂貨號(hào)
德國(guó)KD涂層測(cè)厚儀PC-LEPTOSKOP 2050探頭
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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