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德國KD 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042
產(chǎn)品型號: |
LEPTOSKOP 2042 |
品 牌: |
德國KD |
價格電議,您可以向供應商詢價得到該產(chǎn)品價格 |
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所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2024-09-23 |
德國KD 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042
產(chǎn)品簡介
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內,可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
德國KD 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術資料
數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
電源:電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量2個數(shù)值
存儲:
***多 9999 個數(shù)值,140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準后)
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
德國KD 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 特點概述
大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準選項
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出廠時已校準,立即可用
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在未知涂層上校準*
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零校準*
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在無涂層的基體上一點和多點校準*
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在有涂層的基體上校準*
校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中,也可以隨時調出
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可選擇的顯示模式,以***佳形式去完成測量任務*
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輸入和極限監(jiān)視*
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在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
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可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統(tǒng)計*
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可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
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***小值、***大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
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局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
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在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值概括
* 取決于配置級別
3種配置級別以更好的完成測量人任務
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別
-
基本型 – 證明質量的基本特征
-
高級型 - 附加統(tǒng)計評估
-
*型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
如果針對新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或*型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。
附件
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)?/span>Windows 程序里
德國卡爾德意志KARL DEUTSCH產(chǎn)品系列
超聲波測厚儀 |
產(chǎn)品組 |
產(chǎn)品型號/名稱 |
品牌 |
配置說明 |
市場價(元) |
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1076Basic超聲波測厚儀 |
德國KD |
基本型主機、探頭、電池、儀器箱、100m耦合劑1076.005+1465.761 |
22000 |
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1076Data超聲波測厚儀 |
德國KD |
數(shù)據(jù)型主機、探頭、數(shù)據(jù)存儲、電腦傳輸、電源接口、防塵保護帽、電池、儀器箱100ml耦合劑1076.002+1465.672 |
25500 |
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1076TCBasic
超聲波測厚儀 |
德國KD |
帶涂層穿透功能的基本型主機、探頭、電池、儀器箱、100m耦合劑1076.004+1465.672 |
35600 |
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1076TCData
超聲波測厚儀 |
德國KD |
帶涂層穿透功能的數(shù)據(jù)型主機、探頭、數(shù)據(jù)存儲、電腦傳輸電源接口、防塵保護帽、電池、儀器箱100ml耦合劑1076.003+1465.672 |
31000 |
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1077Data超聲波測厚儀 |
德國KD |
1077測厚儀主機、探頭DS6PB4-14(含10mm延時、塊)、1m探頭線、電池、100ml耦合劑、USB數(shù)據(jù)線、CD驅動、EasyExport電腦軟件、說明書、檢測報告、儀器箱 |
42000 |
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涂層測厚儀 |
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2018NFe一體涂層測厚 |
德國KD |
主機、電池、校準箔、校準試塊、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
8600 |
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2021Fe一體涂層測厚 |
德國KD |
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8600 |
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2026Fe/Nfe一體涂層測厚 |
德國KD |
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11000 |
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2042Fe基本型
涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.100探頭、測試塊、校準箔操作手冊、質量證書儀器箱 |
24000 |
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2042NFe基本型
涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.130探頭、測試塊、校準箔操作手冊、質量證書儀器箱 |
24500 |
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2042Fe/NFe
基本型涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.410探頭、測試塊、校準箔操作手冊、質量證書儀器箱 |
31400 |
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2042Fe統(tǒng)計型
涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.100探頭、測試塊、校準箔、USB線、軟件EasyExport、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
30800 |
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2042NFe統(tǒng)計型
涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.130探頭、測試塊、校準箔、USB線、軟件EasyExport、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
31400 |
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2042Fe/NFe
統(tǒng)計型涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.410探頭、測試塊、校準箔、USB線、軟件EasyExport、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
37300 |
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2042Fe統(tǒng)計數(shù)據(jù)存儲型涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.100探頭、測試塊、校準箔、統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲器USB線、軟件、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
35700 |
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2042NFe統(tǒng)計數(shù)據(jù)存儲型涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.130探頭、測試塊、校準箔、統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲器USB線、軟件、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
36400 |
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產(chǎn)品組 |
產(chǎn)品型號/名稱 |
品牌 |
配置說明 |
市場價(元) |
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2042Fe/Nfe統(tǒng)計數(shù)據(jù)存儲型涂層測厚儀 |
德國KD |
主機、配2442.410探頭、測試塊、校準箔、統(tǒng)計和數(shù)據(jù)存儲器USB線、軟件、操作手冊、質量證書、儀器箱 |
42600 |
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PC-LEPTOSKOP2050
涂層測厚儀 |
德國KD |
配2050.101探頭、軟件、測試塊、校準箔、操作手冊、質量證書、手提包 |
17600 |
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超聲波探傷儀 |
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1090BASIC
超聲波探傷儀 |
德國KD |
主機、直探頭S10W4C、斜探頭3個(WK45PB4、WK60PB4、WK70PB4)、探頭線(2mØ2.7mm)一根、儀器箱、耦合劑、充電器、操作說明書、出廠證明 |
149000 |
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1090DAC超聲波探傷儀 |
德國KD |
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155000 |
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1090DGS/DAC
超聲波探傷儀 |
德國KD |
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165000 |
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1095高精度超聲波探傷儀 |
德國KD |
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磁粉探傷儀 |
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DEUTROPULS
磁粉探傷儀(220V) |
德國KD |
磁探儀、磁懸液一瓶、說明書、儀器箱 |
17200 |
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DEUTROPULS
磁粉探傷儀(42V) |
德國KD |
標配一個探頭,磁探儀、磁懸液一瓶、說明書、儀器箱 |
17200 |
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裂紋測深儀 |
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RMG4015裂紋測深儀 |
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德國KD |
主機、探頭、標準試塊、儀器箱、說明書、測試報告、出廠證書4015.003+4720.002+4418.001) |
98000 |
探傷耗材 |
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DEUTROMETER3873
磁場強度儀 |
德國KD |
3873磁場儀主機、標準探頭、電池、說明書、儀器箱 |
23600 |
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KD-CHECK滲透劑 |
德國KD |
標準配置 |
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FLUXA濃縮磁懸液 |
德國KD |
標準配置 |
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DEUTROMETERII大面積黑光燈 |
德國KD |
標準配置 |
44500 |
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9803.001熒光磁懸液性
能定量測試試塊 |
德國KD |
標準配置 |
6700 |
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PH3819UV-聚光燈 |
德國KD |
標準配置 |
27900 |
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3814便攜式黑光燈 |
德國KD |
標準配置 |
2800 |
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3872.601參考磁場 |
德國KD |
標準配置 |
9600 |
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3821.002剩磁計 |
德國KD |
標準配置 |
4000 |
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6904.002參考試塊 |
德國KD |
標準配置 |
18700 |
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UV-IntensityMeter
黑光強度計 |
德國KD |
標準配置 |
16100 |
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6904.001熒光磁懸液性能定性測試試塊 |
德國KD |
標準配置 |
7600 |
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