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泰立儀器*代理銷(xiāo)售全球頂尖工業(yè)無(wú)損檢測(cè)產(chǎn)品：超聲波測(cè)厚儀 超聲波探傷儀 電導(dǎo)率儀 磁導(dǎo)率儀等等
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    美國(guó)GE超聲直探頭SEB2

    產(chǎn)品型號(hào)： -0°
    品  牌： 美國(guó)GE
    • ≧1 只
      ￥8800.00
    所 在 地： 廣東深圳
    更新日期： 2024-09-23
    詳細(xì)信息
    美國(guó)GE超聲直探頭SEB2

    主要特性
    •獨(dú)立的發(fā)射器和接收器單元
    •縱波垂直掃描
    •小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
    •由于可研磨的塑料延遲線(xiàn)，即使在粗糙或彎曲的表面也有好的耦合性
    •延遲線(xiàn)由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
    •特別適合于聚焦區(qū)域內(nèi)剩余壁厚的測(cè)量
    •加上特殊的延遲線(xiàn)（特殊產(chǎn)品）適合于在熱的表面上的測(cè)量
     

    注釋?zhuān)?/span>
    粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
    O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
    O= 提供DGS標(biāo)尺
    關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋?zhuān)?jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
    關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
    類(lèi)型
    [訂購(gòu)號(hào)碼]     		a×b [mm] f [MHz] AB* [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀
    編號(hào)    		 備注 草圖
       特性帶寬：65%
    DA0.8G 20Ø 0.8 3-400 35 8 0.8-20/2 用于高衰減 類(lèi)型15
    特性帶寬：40%
    SEB1
    SEB2
    SEB2-0°
    SEB4
    SEB4-0°    		 21Ø
    7×18
    7×18
    6×20
    6×20    		 1
    2
    2
    4
    4    		 3-400
    2-1000
    4.5-2000
    1.5-2000
    4-4000    		 20
    15
    30
    12
    25    		 10
    5
    5
    2.5
    2.5    		 1-21/2
    2-7×18
    2-7×18-0
    4-6×20
    4-6×20-0    		 0°意味著
    兩個(gè)單元的
    公共角度是
    0°
    帶寬100%    		 類(lèi)型15
    類(lèi)型16
    類(lèi)型17
    MSEB2
    MSEB4
    MSEB4-0°
    MSEB5    		 11Ø
    3.5×10
    3.5×10
    9Ø    		 2
    4
    4
    5    		 2-400
    1-1500
    1.5-2000
    0.5-200    		 8
    10
    18
    10    		 5
    2.5
    2.5
    1    		 2-11/2
    4-3.5×10
    4-3.5×10-0
    5-9/2
    SEB2KF5
    SEB4KF8
    SEB5KF3    		 8 Ø
    8 Ø
    8 Ø    		 2
    4
    5    		 1.5-350
    0.8-400
    0.5-80    		 6
    6
    3    		 4
    2
    1    		 2-8/2
    4-8/2
    5-8/2
    SEB10KF3 5 Ø 10 0.3-140 3 0.5 10-5/2   類(lèi)型18
    SEZ5M5 3 Ø 5 0.6-50 3 1 5-3/2 固定電纜(2m) 類(lèi)型19
    合成單元，特性帶寬70%
    SEK2C 7×18 2 1.5-1500 15 4 2-7×18   類(lèi)型15
    MSEK2
    MSEK4    		 11 Ø
    3.5×10    		 2
    4    		 1.5-450
    1-2000    		 8
    10    		 4
    2    		 2-11/2
    4-3.5×10    		   類(lèi)型16
                       
    *) 用于無(wú)衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限。




















     
    附件描述 類(lèi)型 備注
    探頭電纜（2米）
    耦合劑    		 SEKG2
    SEKM2
    ZG-F    		 用于SEB..,SEK..,MSEB..,
    MSEK.., DA0.8G
    用于SEB.KF.
    見(jiàn)36頁(yè)





















    主要特性 
    •單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 
    •通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
    •完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） 
    •牢固的金屬盒 
    •用通常采用的線(xiàn)聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力 
    •使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
     
    探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式

    接觸法探頭
    直探頭---單晶
    ·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
    ·接觸面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
    ·適于穿透厚部件
    ·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
    ·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
    直探頭--雙晶
    ·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
    ·近表面分辨率好，用于較薄部件
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
    ·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
    斜探頭
    ·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
    ·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
    ·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
    ·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
    ·有單晶探頭和雙晶探頭
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
    ·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
    水浸法探頭
    水浸探頭
    ·在水中匹配好，效率高
    ·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
    ·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
    ·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
    ·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
    ·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
     
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