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美國(guó)GE貝克休斯斜探頭WB35-4
詳細(xì)信息
通常
直探頭不能到達(dá)的或者與表面成一定角度或垂直方向分布的缺陷的探測(cè)和評(píng)估。 WB..和WK..:用于由非合金或低合金鋼制成的大物體的測(cè)試(如厚壁容器、轉(zhuǎn)軸、所有厚的焊接件)。WK..探頭產(chǎn)生非常短的回波脈沖。
特性:大的外形、大的深度時(shí)具有窄的聲波場(chǎng)
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]a×b [mm]
N [mm]f [MHz] B 1) [Grad] AB* [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬:40% WB45-1
WB60-1
WB70-1
WB35-2
WB45-2
WB60-2
WB70-2
WB80-2
WB90-2
WB35-4
WB45-4
WB60-4
WB70-420×22 1
1
1
2
2
2
2
2
2
4
4
4
445
60
70
35
45
60
70
80
90
35
45
60
7020-1300
20-1200
17-1000
15-2700
10-2700
06-2500
05-2200
09-2000
-
10-3500
06-5000
05-4000
03-370045
45
45
90
90
90
90
90
95
180
180
180
1806
6
6
4
4
4
4
4
4
2
2
2
21-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
-
-
4-20×22
4-20×22
4-20×22
4-20×221) 3255m/s
提供連接器
頂端:Wb..-01
-02
-04
生成表面波
*)用于無(wú)衰減
材料時(shí)規(guī)定的
工作范圍上限類型21 合成單元,特性帶寬:70% WK45-1
WK60-1
WK70-1
WK45-2
WK60-2
WK70-220×22 1
1
1
2
2
245
60
70
45
60
7010-1500
10-1400
9-1300
8-3000
5-2800
4-250045
45
45
90
90
905
5
5
3
31-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22類型21 SWK45-2
SWK60-2
SWK70-214×14 2
2
245
60
704-3500
4-3100
4-260039
39
393
3
32-14×14
2-14×14
2-14×14類型20
附件描述 類型 備注 探頭電纜(2米)
備用件
(1件=10片)
耦合劑
DGS標(biāo)尺PKLL2
MPKl2
WP(E)
SWP
ZG-F用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
見(jiàn)36頁(yè)
見(jiàn)35頁(yè) -
留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
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- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
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- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
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- 涂層測(cè)厚儀
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- 鈍化膜測(cè)試儀
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- 地下管線探測(cè)
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- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
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計(jì)量測(cè)試儀
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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