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探傷儀探頭K1SM美國(guó)GE
詳細(xì)信息
美國(guó)GE探傷儀探頭 K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探頭):用于測(cè)試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體,它們的材料會(huì)通過聲波的散射作用(例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體)而導(dǎo)致高的聲波衰減,它們也可以用于測(cè)試材料的物理特性(例如建筑材料、巖芯和半導(dǎo)體材料的特性)。
特性:在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短 注釋說明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號(hào)。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬:25% B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30類型1 B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24提供連接器頂端類型B.S-O 類型2 MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10提供連接器頂端類型MBS-O 類型3 特性帶寬:60% K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28具有強(qiáng)聲波衰減的材料試的粗粒探頭 類型1
類型1
類型2
類型2合成單元,特性帶寬:80% K1SC
K2SC
MK1S
MK2S
MK4S24
24
10
10
101
2
1
2
435-1200
18-3000
30-350
15-700
10-130023
45
4
8
166
3
6
3
21-24
2-24
1-10
2-10
4-10粗粒探頭 特別適合于拉鏈技術(shù)中塑料的測(cè)試 類型2
類型3附件描述 類型 備注 保護(hù)膜
(1組=10片)
延遲線或延遲楔
探頭電纜(2米)耦合劑
DGS標(biāo)尺ES57
ES45
ES24
承索
PKLL2
MPKL2
ZG-F用于B..SL;K..S
用于B..S;K..SM;K..SC
用于MB..S;MK..S
如用于高溫下的測(cè)試
用于B..和K..
用于MB..S;MK..S
見36頁
見35頁
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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