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指尖式探頭MB4F美國(guó)GE
詳細(xì)信息
美國(guó)GE指尖式探頭 指尖探頭B..F和MB..F:可以與探頭K..G和K..N相比較,但是由于扁平設(shè)計(jì),它們非常適合于那些不容易接近的位置的測(cè)試。經(jīng)常被稱作"搜索探頭"。
特性:非常好的穿透性 / 高的抗磨損性 / 扁平設(shè)計(jì)
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短注釋說明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,見第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D [mm] [mm] f [MHz] AB* N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬:70% B1F
B2F
B4F
B5F20
20
20
201
2
4
520-1300
10-4000
6-7500
6-1000016
31
62
768
1
3
2.51-20
2-20
4-20
5-20類型8 特性帶寬:60% MB2F
MB4F
MB5F
MB10F10
10
10
102
4
5
613-2500
6-5000
5-6200
3-120008
16
19
364
3
2.5
22-10
4-10
5-10
10-10與MB2S相同
與MB4S相同類型9
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設(shè)計(jì)的探頭。附件描述 類型 備注 探頭電纜(2米 DGS標(biāo)尺
耦合劑MPK2L
ZG-F用于B..F和MB..F
見35頁(yè)
見36頁(yè)
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性:
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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產(chǎn)品分類
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