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硬質(zhì)表面直探頭ND23美國(guó)GE
產(chǎn)品型號(hào): |
ND23 |
品 牌: |
美國(guó)GE |
|
所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2024-09-23 |
ND23硬質(zhì)表面直探頭美國(guó)GE
美國(guó)GE硬質(zhì)表面直探頭 主要特性: •單晶體探頭,用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 •縱波的垂直掃描 •光滑表面上具有高的增益儲(chǔ)備和非常好的分辨率 •陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性 •特殊的平指尖式探頭 •帶可互換延遲線的探頭具有極好的近場(chǎng)分辨率
特性:可生成非常短的聲波脈沖的沖擊波探頭
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短
注釋說明
o= 提供探頭數(shù)據(jù)表
o= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,
見第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。 |
類型
[訂購(gòu)號(hào)碼] |
D [mm] [mm] |
f [MHz] |
AB** |
N [mm] |
EB [mm] |
聲束形狀
編號(hào) |
備注 |
草圖 |
抗磨損陶瓷保護(hù)貼面;特性帶寬:100% |
G1N
G2N
G3N |
G1N
G2N
G3N |
2
4
5 |
12-2300
10-2500
7-5000 |
23
45
88 |
5
2.5
1.2 |
1-24
2-24
4-24 |
|
類型11 |
抗磨損陶瓷保護(hù)貼面;特性帶寬:100% |
G2KB
G5KB
G5K
G10K |
10
10
5
5 |
2
5
5
10 |
7-1300
3-3400
2-130
1.2-200 |
8
20
5
10 |
2.5
1.0
1.5
0.8 |
2-10
5-10
5-5
10-5 |
|
類型12
類型13 |
可互換的50MHz塑料或石英延遲線;特性帶寬:100% |
G5MN
G10MN
G15MN
ND23
ND50 |
5
5
5
5
3 |
5
10
15
23
50 |
2-20
1-30
0.6-40
0.4-30
0.2-10 |
5
10
15
23
17 |
1.5
0.2
0.5
0.4
0.2 |
5-5 ★
10-5 ★
15-5 ★
固定延遲,
帶寬50% |
|
類型14 |
*) 用于無衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限。實(shí)際上,如果頻率增加,則上限急劇降低。
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設(shè)計(jì)的探頭。
附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜(2米
延遲線(可互換)
耦合劑 |
MPKL2
MPKM2
MPKL2
MPKM2
ZG-F |
用于G..N和G..KB
用于G..K, G..MN和
ND 23, ND50
9.5mm用于G..MN
12.5mm用于G..MN
也提供其它長(zhǎng)度
見36頁(yè) |
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性:
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果