美國(guó)Ge陶瓷表面直探頭K10K
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
K10K |
| 品 牌： |
美國(guó)Ge |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2024-09-23 |
K10K陶瓷表面直探頭美國(guó)GE
美國(guó)GE陶瓷表面直探頭 K..K : 物體上不容易接近的地方。所提供的頻率范圍可以使在選擇探測(cè)區(qū)域）。
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
類型
[訂購(gòu)號(hào)碼] |
D [mm] [mm] |
f* [MHz] |
AB* |
N [mm] |
EB [mm] |
聲束形狀
編號(hào) |
備注 |
草圖 |
| 特性帶寬：70% |
K1G
K2G
K4G |
24
24
24 |
1
2
4 |
15-2300
10-4000
7-8000 |
23
45
88 |
7
3.5
1.8 |
1-24
2-24
4-24 |
|
類型5 |
| 特性帶寬：70% |
K1N
K2N
K4N
K5N
K6N |
10
10
10
10
10 |
1
2
4
5
6 |
15-420
7-2500
5-5000
4-6300
3-7600 |
4
8
16
20
23 |
8
3.5
1.8
1.5
1.2 |
1-10
2-10
4-10
5-10
6-10 |
|
類型6 |
| 性帶寬：60% |
K2K
K5K
K10K
K15K |
5
5
5
5 |
2
5
10
15 |
7-300
5-2100
2-3000
2-3800 |
2.0
5.0
10
15 |
2.5
1.5
1
0.7 |
2-5
5-5
10-5
15-5 |
|
類型7 |
*) 用于無(wú)衰減材料時(shí)規(guī)定的操作量程上限。實(shí)際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設(shè)計(jì)的探頭。
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜（2米）
類型
耦合劑 |
MPKL2
MPKM2
ZG-F |
用于K..G, K..N
用于K..K
見(jiàn)36頁(yè) |
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
