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    美國(guó)GE水密封體直探頭IAP15.6.2

    產(chǎn)品型號(hào)： IAP15.6.2
    品  牌： 美國(guó)GE
    • ≧1 只
      ￥8800.00
    所 在 地： 廣東深圳
    更新日期： 2024-09-23
    詳細(xì)信息
    美國(guó)GE水密封體直探頭IAP15.6.2

    美國(guó)GE水密封體直探頭 A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測(cè)，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開(kāi)：例如半導(dǎo)體基體、電氣插頭和表面保護(hù)層中的材料分離、氣孔和雜質(zhì)等。同樣地，它還可以應(yīng)用于擴(kuò)散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測(cè)試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預(yù)制成型零部件的測(cè)試。

    特性：極好的分辨率和非常好的缺陷探測(cè)性

    注釋：                      
    粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
    = 提供探頭數(shù)據(jù)表
    = 提供DGS標(biāo)尺
    關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
    關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
    類型
    [訂購(gòu)號(hào)碼]    		 D [mm] f [MHz] AB [mm] N F [mm] / 近場(chǎng)分辨率1)
    [mm]    		 聲束形狀
    編號(hào)    		 備注 草圖
    缺陷探測(cè)的高分辨率探頭，UHF插座，特性帶寬：80%
    IA5.8
    IAP5.12.6
    IAP10.6.3
    IAP15.6.2    		 12.7
    19
    9.5
    9.5    		 5
    5
    10
    15    		 60-190
    115-225
    55-130
    40-65    		 130
    150
    75
    50    		 ZYB 0.5Ø in 3
    ZYB 0.5Ø in 1.5
    FBB 0.4Ø in 1.3
    FBB 0.4Ø in 1.0    		 5-12.7
    -
    -
    -    		 點(diǎn)聚焦
    點(diǎn)聚焦
    點(diǎn)聚焦    		 類型39
    類型40
    類型39
    類型39
    帶固定電纜的沖擊波探頭，特性帶寬：100%
    H1N
    H2N    		 20
    20    		 1
    2    		 28-156
    50-267    		 64
    127    		 FBB 5Ø in19
    FBB 2Ø in13    		 1-20
    2-20    		   類型36
    H2K
    H5K
    H10K    		 10 2
    5
    10    		 14-77
    34-190
    68-380    		 32
    80
    160    		 FBB 2Ø in6.5
    FBB 2Ø in4
    FBB 2Ø in2    		 2-10
    5-10
    10-10    		   類型37
    H5M
    H10M
    H10MP15
    H10ML15    		 5 5
    10
    10
    10    		 8-52
    16-104
    10-23
    10-23    		 20
    40
    15
    15    		 FBB 2Ø in3
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5
    FBB 2Ø in1.5    		 5-5
    10-5
    -
    -    		 點(diǎn)聚焦
    線聚焦    		 類型38
    帶固定電纜的寬帶探頭，特性帶寬：80%
    L1N
    L2N
    L2K
    L4K
    L5K
    L5M    		 20
    20
    10
    10
    10
    5    		 1
    2
    2
    4
    5
    5    		 28-156
    50-264
    14-77
    28-154
    34-190
    8-52    		 63
    127
    32
    64
    80
    20    		 FBB 2Ø in24
    FBB 2Ø in12
    FBB 2Ø in6
    FBB 2Ø in5
    FBB 2Ø in3.5
    FBB 2Ø in2.5    		 1-20
    2-20
    2-10
    4-10
    5-10
    5-5    		   類型36
    類型36
    類型37
    類型38
    所有探頭都有點(diǎn)聚焦或線聚焦形式（請(qǐng)注明焦距）。其它設(shè)計(jì)根據(jù)要求確定。
    1) 注意第5
    附件描述 類型 備注
    探頭電纜（2米）
    H..K進(jìn)行接觸測(cè)試
    的延遲線
    耦合帽    		 PKI2
    承索    		 用于IA..和IAP..
    承索
    對(duì)于干耦合見(jiàn)36頁(yè)








    探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
    接觸法探頭
    直探頭---單晶
    ·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
    ·接觸面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
    ·適于穿透厚部件
    ·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
    直探頭--雙晶
    ·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
    ·近表面分辨率好，用于較薄部件
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
    斜探頭
    ·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
    ·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
    ·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
    ·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
    ·有單晶探頭和雙晶探頭
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
    水浸法探頭
    水浸探頭
    ·在水中匹配好，效率高
    ·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
    ·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
    ·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
    ·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
    ·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
     
     
     
     
     
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