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美國(guó)GE高頻直探頭IAP25.2.1
詳細(xì)信息
主要特性:
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力
注釋?zhuān)?/span>
粗體=首選探頭,帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋?zhuān)?jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
類(lèi)型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D [mm] f [MHz] F [mm] AB6/1 [mm] N / FD6 1) [mm] 聲束形狀
編號(hào)草圖 點(diǎn)聚焦,帶UHF或Microdot連接器 *);特性帶寬:100% IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.23
3
5
5
3
3
3
5
525
25
25
25
50
50
50
50
509.4-20.6
16-60
20-35
34.5-100
6.6-8.4
10.6-15.8
18.5-41
21.5-29
40-7112.5
25
25
50
7.5
12.5
25
25
500.25
0.49
0.30
0.59
0.07
0.12
0.25
0.15
0.30-
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-類(lèi)型F
或
類(lèi)型FM非聚焦,帶UHF或Microdot連接器 *);特性帶寬:100% IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.33
5
3
525
25
50
5017-86
45-227
33-170
89-45536
99
71
1980.7
1.2
0.7
1.225-3
25-5
50-3
50-5類(lèi)型F
或
類(lèi)型FM
1) 請(qǐng)注意第5頁(yè)上的定義。附件描述 類(lèi)型 備注 探頭電纜:
Microdot / BNC
適配器:
BNC插座/ Lemo插頭探頭電纜:
UHF/BNC適配器PKI-S0.75
PKLB1
PKIB0.75
ANP21用于
IA(P)-FM 25/50
用于PKIS..和PKIB..
用于帶UHF和BNC的IA(P) -
F25/50伸縮管
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性:
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類(lèi):接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果 -
留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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