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美國GE高頻直探頭IAP50.2.1
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應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優(yōu)勢
•歐式型號具有可更換的軟保護(hù)膜:
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器,標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面,頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護(hù)膜:
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測。
– BNC 連接器,側(cè)面或頂部安裝
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋,見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。類型
[訂購號碼]D [mm] f [MHz] F [mm] AB6/1 [mm] N / FD6 1) [mm] 聲束形狀
編號草圖 點聚焦,帶UHF或Microdot連接器 *);特性帶寬:100% IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.23
3
5
5
3
3
3
5
525
25
25
25
50
50
50
50
509.4-20.6
16-60
20-35
34.5-100
6.6-8.4
10.6-15.8
18.5-41
21.5-29
40-7112.5
25
25
50
7.5
12.5
25
25
500.25
0.49
0.30
0.59
0.07
0.12
0.25
0.15
0.30-
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-類型F
或
類型FM非聚焦,帶UHF或Microdot連接器 *);特性帶寬:100% IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.33
5
3
525
25
50
5017-86
45-227
33-170
89-45536
99
71
1980.7
1.2
0.7
1.225-3
25-5
50-3
50-5類型F
或
類型FM
1) 請注意第5頁上的定義。附件描述 類型 備注 探頭電纜:
Microdot / BNC
適配器:
BNC插座/ Lemo插頭探頭電纜:
UHF/BNC適配器PKI-S0.75
PKLB1
PKIB0.75
ANP21用于
IA(P)-FM 25/50
用于PKIS..和PKIB..
用于帶UHF和BNC的IA(P) -
F25/50伸縮管
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留 言
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