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日本KETT LH-200J系列膜厚計
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泰立儀器為您推薦日本KETT膜厚計:LE-200J LH-200J LZ-200J 免費提供咨詢,培訓以及檢測服務。 82513966 QQ:--- 2355613391
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
技術參數(shù):
規(guī)格型號 LE-200J LH-200J LZ-200J 測定對象 磁性金屬上非磁性涂鍍層 非磁性金屬上絕緣層 磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層 測定范圍 0~1500um
或0~60.0mils0~800um
或0~32.0mils0~1500um
或0~60.0mils測定精度 <50um±1um , >50um±2% 分 辨 率 <100um 0.1um , >100um 1um 功能統(tǒng)計 可設定上/下限數(shù)值,可分批統(tǒng)計*大值、*小值、平均值、標準差。
數(shù)據(jù)可存儲,可連接電腦,內(nèi)置打印機、即時打印計量單位 公制、英制可自由切換 顯示方式 LCD液晶屏 操作面板 密封防水多功能數(shù)字鍵盤 隨機附件 基體/校正標準片/電池/皮套/說明書/穩(wěn)壓電源/打印紙 電 源 DV6V 5#堿性電池×6個(打印機另需4個),可接穩(wěn)壓電源 體 積 175mm(W)×245(mmD)×31mm(H) 重 量 1100g -
留 言
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