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紙張測厚儀MX-1100美國Oakland
詳細信息| 詢價留言紙張測厚儀MX-1100美國Oakland簡介：
儀器特性：■操作簡單 三種操作模式：手動，數(shù)字和軟件�？赏饨哟蛴C或第三方軟件以顯示分析圖表和統(tǒng)計值。
■提供離散點測量和厚度輪廓測量 測頭可自動升降。
■豐富的擴展功能 可外接打印機，電腦和*軟件。
技術參數(shù)：
泰立儀器代理銷售全球各大品牌：超聲波測厚儀，涂層測厚儀，紙張測厚儀，薄膜測厚儀。 可測樣品 所有的薄膜和薄片材料 測量范圍 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他測量范圍 當訂購公制單位時，請指定um或mm顯示 行程（探頭縮回高度） 對應的測量范圍加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil時； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil時。 精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm 平行度 +/-1.0um或更好 測頭尺寸 直徑4.3mm（薄膜）
直徑15.9mm（紙張）
或針對其他材料的其他尺寸測頭壓力 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜
7.3psi（0.513kg/cm²），紙張
或針對其他材料的其他設置循環(huán)速率 20/分鐘（40/分鐘，可選），薄膜
20/分鐘（12/分鐘，可選），紙張
或針對其他材料的其他設置下落速率 1mm/sec，紙張 儀器尺寸（寬x長x高） 25 x 25 x 28 cm 標準配置 主機，標準厚度片，腳踏開關 選配件 打印機，質量控制軟件（Quality Control Software） 符合標準 ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370
泰立儀器咨詢 QQ：--- -
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