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    美國GE貝克休斯測厚儀探頭SEB4

    產(chǎn)品型號： SEB4
    品  牌： 美國GE
    • ≧1 只
      ￥5500.00
    所 在 地： 廣東深圳
    更新日期： 2024-09-23
    詳細信息
    美國GE貝克休斯測厚儀探頭

    應(yīng)用
    •結(jié)構(gòu)規(guī)則簡單的大型工件檢測
    •鍛件、坯料檢測
    •板材、棒材、方型材
    •容器、機器零部、外殼
    •在高溫下用延遲塊檢測

    功能特和優(yōu)勢
    •歐式型號具有可更換的軟保護膜：
    – 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
    – 延長探頭使用壽命。
    – 適用于 DGS 缺陷定量方法
    – 提供高溫延遲塊
    – Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
    •美式型號具有可更換的軟保護膜：
    – 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
    – 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
    – 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
    – BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝

    這些探頭基本上能滿足所有常規(guī)檢測要求。這些常規(guī)探頭都能用于各種標準超聲探傷儀。這些探頭性能優(yōu)越，可靠性高，能滿足非常嚴格的應(yīng)用要求，精度高，我們探頭的技術(shù)參數(shù)都能控制在允許的誤差范圍內(nèi)。
    雙晶探頭
    型號 頻率（MHZ） 換能器尺寸（mm） 尺寸Φ(mm) 高度（mm）  
    SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65  
    MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45  
    SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17  
    直探頭
    B+S
    MB*S    		 1, 2, 4, 5
    2, 4, 5    		 24
    10    		 45
    25    		 59
    43    		  
    K*G
    K*N
    K*K    		 1, 2, 4, 6
    2, 4, 6, 10
    2, 5, 10, 15    		 24
    10
    5    		 45
    25
    11    		 60
    43
    17    		  
    B*F
    MB*F    		 1, 2, 4, 5
    2, 4, 5, 6, 10    		 20
    10    		 31
    19    		 15
    15    		  
    斜探頭 頻率（MHZ） 晶片尺寸（mm×mm） 長 寬 高
    WB 35-*
    WB 45-*
    WB 60-*
    WB 70-*
    WB 80-*
    WB 90-*
    MWB 35-*
    MWB 45-*
    MWB 60-*
    MWB 70-*
    MWB 80-*
    MWB 90-*    		 2, 4
    1, 2, 4
    1, 2, 4
    1, 2, 4
    2, 4
    2
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    2, 4
    4    		 20 x 22


     
     
     
     8 x 9




         		 53.5
    53.5
    53.5
    53.5
    53.5
    53.5
    27
    27
    27
    27
    27
    27    		 29
    29
    29
    29
    29
    29
    15
    15
    15
    15
    15
    15    		 45
    45
    45
    45
    45
    45
    22
    22
    22
    22
    22
    22
     


    美國GE貝克休斯超聲波探頭 
    主要特性： 
    •單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 
    •通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
    •完全不漏水的版本設(shè)計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） 
    •牢固的金屬盒 
    •用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力 
    •使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
     
    探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
    接觸法探頭
    直探頭---單晶
    ·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
    ·接觸面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
    ·適于穿透厚部件
    ·延遲塊用以提高近場分辨率
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·通常用于手動檢測
    直探頭--雙晶
    ·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
    ·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
    ·近表面分辨率好，用于較薄部件
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·通常用于手動檢測
    斜探頭
    ·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
    ·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
    ·大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
    ·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
    ·有單晶探頭和雙晶探頭
    ·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
    ·有時用于機械化或自動化檢測

    水浸法探頭
    水浸探頭
    ·在水中匹配好，效率高
    ·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
    ·通常用于機械化或者自動化檢測
    ·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
    ·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
    ·探頭聚焦可以增進效果
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