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美國(guó)GE貝克休斯粗晶探頭VRY70
詳細(xì)信息
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類(lèi):接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
美國(guó)GE粗晶探頭對(duì)于普通探頭,由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致,這樣容易造成缺陷漏檢。所以,檢測(cè)粗晶材料時(shí)要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測(cè)部分奧氏體焊縫,并得到一些滿意的結(jié)果,這主要取決于被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性。具有可更換保護(hù)膜的直探頭 頻率(MHZ) 接觸面(mm) 尺寸Φ(mm) K 0.5 S 0.5 40 34 高阻尼 K 1 S 1 40 34 高靈敏度 K 1 SM 1 33 28 非常好的信噪比 B 0.5 SL 0.5 40 34 非常好的靈敏度 B 1 SL 1 40 34 高阻尼,高信噪比 K 1 SC 1 30 24 復(fù)合材料壓電晶片 K 1 SC 2 30 24 *好的靈敏度和信噪比 縱波斜探頭—單晶系列,復(fù)合材料壓電晶片 頻率(MHZ) 接觸面(mm) 角度( °) 深度范圍 要求的探頭線 WRY 45
WRY 60
WRY 70
WSY 45-2
WSY 60-2
WSY 70-2
WSY 45-4
WSY 60-4
WSY 70-42
2
2
2
2
2
4
4
448 x 25
48 x 25
48 x 25
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 13
28 x 1345
60
70
45
60
70
45
60
705 – 100
5 – 80
5 – 55
6 – 25
4 – 20
3 – 15
3 – 30
3 – 20
2 - 15} MPKL 2
} MPKL 2
} MPKL 2雙晶系列縱波斜探頭—復(fù)合材料壓電晶片 頻率(MHZ) 接觸面(mm) 角度( °) 深度范圍 VRY 45
VRY 60
VRY 70
VSY 45
VSY 60
VSY 701,8
1,8
1,8
4
4453 x 29
53 x 29
53 x 29
30 x 15
30 x 15
30 x 1545
60
70
45
60
7015 – 70
10 – 60
5 – 45
2 – 30
1.5 – 20
1.5 - 20} SEKL 2
} SEKN 2 -
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