 |
-
美國(guó)GE貝克休斯探傷儀高溫測(cè)頭SEB4KVW70B4GV
詳細(xì)信息美國(guó)GE貝克休斯高溫測(cè)頭SEB4KV W70B4GV
通過與德國(guó)聯(lián)邦材料檢測(cè)研究所（BAM）合作,*新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續(xù)工作至250℃。當(dāng)接觸面溫度升高到250℃以上時(shí)，測(cè)量后的探頭必需降底溫度。斜探頭允許的*大接觸溫度大約是350℃，但是在如此高的溫度下延遲塊性能會(huì)受到一定的影響。此外，雙晶直探頭可以承受的*高接觸溫度大約為800℃。根據(jù)溫度的不同，選用的偶合劑也不同:Z G T 可以達(dá)到2 5 0℃，而Z G M可以達(dá)到550℃。在超過550℃的溫度下，可以用玻璃粉偶合。這些特殊設(shè)計(jì)的探頭同樣可以在-197℃的低溫下進(jìn)行測(cè)量。
參數(shù)斜探頭 附：探頭電纜線MPKL2-V，編號(hào)：65261在150℃，入射角根據(jù)溫度的變化而變化。大約是，在45℃下變化為0.260/10℃，在60℃和70℃下變化為0.50/10℃ W45B2GV
W60B2GV
W70B2GV
W45B4GV
W60B4GV
W70B4GV雙晶直探頭 附：2 x探頭電纜線MPKL2-V，編號(hào)：65261 SE B4 KV 超聲探頭高性能硬質(zhì)陶瓷接觸式直探頭 典型的波寬：75% K1G
K2G
K4G
K2N
K4N
K5N
K6N典型的波寬：100% G1N
G2N
G4N
G2KB
G5KB
-
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址：
https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.talenttrove.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
