美國(guó)GE歐式探頭SWK45-2
嚴(yán)控探頭生產(chǎn)每一環(huán)節(jié)
70年來，Krautkrämer超聲探頭一直是質(zhì)量的代名詞。
我們的核心技能是能夠保證每個(gè)超聲探頭能夠滿足各種簡(jiǎn)單和復(fù)雜的檢測(cè)應(yīng)用要求，我們?cè)谠O(shè)計(jì)和生產(chǎn)探頭時(shí)，確保每一生產(chǎn)工藝*優(yōu)化，確保每個(gè)探頭的質(zhì)量，使探頭性能*優(yōu)化，滿足各種檢測(cè)應(yīng)用要求
需求分析：我們已經(jīng)設(shè)計(jì)生產(chǎn)了超過一百萬個(gè)超聲探頭，包括14000個(gè)特殊應(yīng)用探頭，我們具有非常豐富的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭經(jīng)驗(yàn)，我們會(huì)根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用需求選擇*佳的探頭設(shè)計(jì)方案。
生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)：為了確保每個(gè)探頭的質(zhì)量，我們嚴(yán)格執(zhí)行探頭生產(chǎn)規(guī)范和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)
仿真設(shè)計(jì)：在探頭*初設(shè)計(jì)階段，我們使用*先進(jìn)的仿真軟件仿真超聲聲場(chǎng)，*優(yōu)化探頭設(shè)計(jì)，同時(shí)我們對(duì)使用仿真軟件有非常豐富的經(jīng)驗(yàn)，非常了解仿真軟件的局限性，我們知道如何根據(jù)仿真結(jié)果*優(yōu)化設(shè)計(jì)與生產(chǎn)探頭。
應(yīng)用測(cè)試：我們?cè)谌蛴袘?yīng)用中心，能夠在應(yīng)用中心實(shí)驗(yàn)室對(duì)各種復(fù)雜應(yīng)用工件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試，根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)試效果研究出*佳檢測(cè)方案，你要做的只是將需檢測(cè)的工件寄給我們。
材料選擇和加工。我們?cè)诓少?gòu)原材料時(shí)使用*高標(biāo)準(zhǔn)，并且我們的內(nèi)部制造完全按照ISO標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行控制。我們?cè)趷蹱柼m香農(nóng)的工廠生產(chǎn)壓電復(fù)合陶瓷晶片，能夠根據(jù)具體要求生產(chǎn)*佳壓電晶征。
·原型探頭。在充分了檢測(cè)需求之后，我們制作原型探頭，以進(jìn)一步驗(yàn)證該解決方案的有效性。
·探頭測(cè)試。我們確保每個(gè)探頭的可重復(fù)性和穩(wěn)定性，每個(gè)探頭在每一生產(chǎn)環(huán)節(jié)都根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范嚴(yán)格測(cè)試，確保滿足技術(shù)規(guī)范要求。我們每個(gè)探頭都有唯一的序列號(hào)，記錄每個(gè)探頭的所有技術(shù)參數(shù)，并且生成測(cè)試報(bào)告保存于我們的數(shù)據(jù)庫(kù)中，我們提供探頭技術(shù)參數(shù)，包括每個(gè)探頭的探頭波形和頻譜結(jié)果，以及各技術(shù)參數(shù)的誤差范圍。制造生產(chǎn)。我們能夠根據(jù)歐州標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)制造生產(chǎn)探頭，我們也可以根據(jù)各地的規(guī)范要求生產(chǎn)探頭，也可以根據(jù)檢測(cè)應(yīng)用要求定制生產(chǎn)探頭，如修改探頭外殼設(shè)計(jì)、探頭接口，以及晶片尺寸和形狀，包括非標(biāo)準(zhǔn)頻率、靈敏度、帶寬和聚焦等性能。
·配送。通過我們的全球分銷站點(diǎn)和客戶服務(wù)資源為您提供*佳配送方案，確保全程提供訂單狀態(tài)，直到探頭到達(dá)您的手中。
·支持。我們的專家資源可幫助您應(yīng)對(duì)各種具有挑戰(zhàn)性的超聲檢測(cè)應(yīng)用需求，包括現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師和可以通過電話或電子郵件全天候與您聯(lián)系的遠(yuǎn)程服務(wù)技術(shù)人員。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
| 帶組合塑料楔塊的橫波斜探頭 |
特性：大的外形、大的深度時(shí)具有窄的聲波場(chǎng) |
WB45-1
WB60-1
WB70-1
WB35-2
WB45-2
WB60-2
WB70-2
WB80-2
WB90-2
WB35-4
WB45-4
WB60-4
WB70-4 |
20×22
|
1
1
1
2
2
2
2
2
2
4
4
4
4 |
20-1300
20-1200
17-1000
15-2700
10-2700
06-2500
05-2200
09-2000
-
10-3500
06-5000
05-4000
03-3700 |
45
45
45
90
90
90
90
90
95
180
180
180
180 |
6
6
6
4
4
4
4
4
4
2
2
2
2 |
1-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
-
-
4-20×22
4-20×22
4-20×22
4-20×22 |
1) 3255m/s
提供連接器
頂端:Wb..
[] -02
[] -04
生成表面波
2)用于無衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限 |
WK45-1
WK60-1
WK70-1
WK45-2
WK60-2
WK70-2 |
20×22
|
1
1
1
2
2
2 |
45
60
70
45
60
70 |
10-1500
10-1400
9-1300
8-3000
5-2800
4-2500 |
45
45
45
90
90
90 |
5
5
5
3
3
|
|
SWK45-2
SWK60-2
SWK70-2 |
14×14
|
2
2
2 |
45
60
70 |
4-3500
4-3100
4-2600 |
39
39
39 |
3
3
3 |
|
