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  • 美國GE測厚儀探頭CA211A

    產(chǎn)品型號: CA211A
    品  牌: GE
    • ≧1 只
      ¥5500.00
    所 在 地: 廣東深圳
    更新日期: 2024-12-27
    詳細信息
     品牌:GE  型號:CA211A  加工定制:否  
     用途:壁厚測量  是否進口:是  產(chǎn)地:美國  
    美國GE測厚儀探頭

    主要特性
    •單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 
    •通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測試)
    •完全不漏水的版本設計,或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外) 
    •牢固的金屬盒 
    •用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力 
    •使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
     
    探頭分為兩大類:接觸式和水浸式

    接觸法探頭
    直探頭---單晶
    ·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
    ·接觸面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
    ·適于穿透厚部件
    ·延遲塊用以提高近場分辨率
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·通常用于手動檢測
    直探頭--雙晶
    ·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
    ·近表面分辨率好,用于較薄部件
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·通常用于手動檢測
    斜探頭
    ·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
    ·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
    ·大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
    ·適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫
    ·有單晶探頭和雙晶探頭
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·有時用于機械化或自動化檢測

    水浸法探頭
    水浸探頭
    ·在水中匹配好,效率高
    ·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
    ·通常用于機械化或者自動化檢測
    ·耦合一致性好,檢測重復性高
    ·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
    ·探頭聚焦可以增進效果

    用于壁厚測量的探頭,特別地與我們的數(shù)字測厚儀相匹配。
      測厚探頭特殊應用于壁厚測量,與我們的數(shù)字測厚儀匹配用。
    測厚儀 量程(MM) 訂購號嗎 接觸面 F(MHZ) 備注
    CL304 /
    CL3DL
    0.13-5
    0.18-25
    1.6-250
    1.6-380
    1.6-25
    0.125-…

     
    Alpha 2A
    Mini DFR
    CLF4
    CLF5
    CA211A
    CA215
    Alpha DFR-P
    5
    7.5
    9.5
    19
    13
    7.5

     
    20
    15
    10
    5
    5
    22

     
    可更換的延遲線118-440-043
    可更換的延遲線CLFV1
    在塑料上測量,延遲線DFR-PV1




     
    CL304 3-500 CA214 15 5  
     
    在高于60℃溫度下測量時,有特殊的延遲線。

    探頭分為兩大類:接觸式和水浸式

    接觸法探頭
    直探頭---單晶
    ·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
    ·接觸面或平或曲
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
    ·適于穿透厚部件
    ·延遲塊用以提高近場分辨率
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·通常用于手動檢測
    直探頭--雙晶
    ·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
    ·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
    ·近表面分辨率好,用于較薄部件
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·通常用于手動檢測
    斜探頭
    ·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
    ·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
    ·大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
    ·適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫
    ·有單晶探頭和雙晶探頭
    ·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
    ·有時用于機械化或自動化檢測

     
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