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美國(guó)達(dá)高特DAKOTA腐蝕測(cè)厚儀MX1-DL-2DL
詳細(xì)信息
Dakota MX腐蝕測(cè)厚儀系列具有大而易讀的顯示器,并為用戶提供A和B掃描選項(xiàng),以準(zhǔn)確解釋測(cè)量結(jié)果。
多功能
測(cè)量未涂層和涂層表面
Dakota MX腐蝕厚度系列靈活易用,不僅可以測(cè)量未涂層表面,還可以測(cè)量涂層表面。使用Echo Echo ThruPaint™模式(EE)時(shí),*大1mm(40mils)的涂層將被忽略。
強(qiáng)大的
*多可存儲(chǔ)4GB的讀數(shù)和波形或B掃描
在掃描模式下,內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄器每秒讀取250個(gè)讀數(shù),*多可存儲(chǔ)4GB的讀數(shù)及其波形。
可定制
選擇并自定義閱讀顯示
Dakota MX超聲波測(cè)厚儀系列有多種顯示模式可供選擇,允許用戶根據(jù)自己的需求選擇*合適的顯示模式;MX2-DL腐蝕測(cè)厚儀上的讀數(shù)、B掃描、B掃描與讀數(shù)、掃描條和A掃描相結(jié)合。
Dakota MX腐蝕測(cè)厚儀
Dakota MX腐蝕測(cè)厚儀有兩種型號(hào):MX1-DL測(cè)厚儀和MX2-DL測(cè)厚計(jì)。這兩種模型都提供了二維橫截面塊視圖,提供了材料厚度的圖形表示,是準(zhǔn)確分析和識(shí)別凹坑和腐蝕區(qū)域的理想選擇。
MX1-DL超聲波測(cè)厚儀:在掃描模式下每秒讀取250個(gè)讀數(shù),內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄器*多可存儲(chǔ)4GB的數(shù)據(jù)及其波形。
MX2-DL超聲波測(cè)厚儀:除了MX1-DL測(cè)厚儀的所有功能外,MX2-DL測(cè)厚計(jì)還具有A掃描顯示器,允許用戶完全解釋和控制測(cè)量讀數(shù)。用戶可以選擇查看全波形(RF)或整流波形(RECT),顯示全波形的正周期或負(fù)周期。
主要特點(diǎn)
功能說明
重復(fù)性/穩(wěn)定性指標(biāo)
由6個(gè)垂直條組成,當(dāng)所有條都完全照亮并且數(shù)字厚度值上的*后一位數(shù)字穩(wěn)定時(shí),該量規(guī)可以可靠地測(cè)量材料厚度。
具有*小厚度顯示的高速掃描
通過顯著提高測(cè)量刷新率,該模式允許用戶對(duì)測(cè)試材料進(jìn)行掃描。*小厚度值保存在內(nèi)存中,并在掃描完成時(shí)顯示。此功能還可以與*小和*大限值報(bào)警功能結(jié)合使用(取決于型號(hào))。
差分模式
一旦設(shè)置了用戶定義的標(biāo)稱厚度值,測(cè)量?jī)x將顯示與輸入的標(biāo)稱值的+/-厚度差。
極限報(bào)警模式
用戶可以定義*小和*大厚度限制。如果測(cè)量值超出上限或下限,紅色LED將亮起,蜂鳴器將響起。綠色LED將亮起,表示厚度可接受。
V路徑校正
雙元件傳感器由一個(gè)帶有兩個(gè)晶體的探頭組成(一個(gè)用于發(fā)射,一個(gè)用于接收聲脈沖)。晶體被聲屏障隔開,當(dāng)聲音從一個(gè)元件傳播到另一個(gè)元件時(shí),會(huì)產(chǎn)生“V”形的聲音路徑。該路徑比直接路徑稍長(zhǎng),因此使用V路徑校正來計(jì)算正確的厚度。
測(cè)量模式說明
脈搏回聲(PE):
正常顯示模式測(cè)量從換能器探頭底部到材料密度邊界(通常是后壁)的總厚度。非常適合凹坑和缺陷檢測(cè)。
回聲-回聲模式(EE):
EE也稱為ThruPaint™模式,忽略涂層厚度,顯示從材料頂面到材料密度邊界的材料厚度。
顯示模式說明
材料厚度數(shù)字顯示:
所有型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)顯示,以毫米(MM)或英寸(in)為單位顯示數(shù)值厚度值。
掃描欄顯示:
一種線性圖形顯示器,允許用戶以圖形方式監(jiān)測(cè)厚度讀數(shù)的變化。由于用戶可以調(diào)整刻度范圍,因此該顯示器非常適合觀察材料厚度的微小變化。
B掃描顯示器:
厚度的基于時(shí)間的橫截面二維塊視圖提供了材料厚度的圖形視圖,是相對(duì)深度分析的理想選擇。
A掃描顯示器;全波(RF):
A-Scan顯示器顯示由被測(cè)材料反射的聲音或振蕩產(chǎn)生的正弦波。在射頻模式下,顯示全波形。
A掃描顯示器;已糾正(+或-):
用戶可以選擇查看全波形(RF)的正周期或負(fù)周期。這種校正(RECT)顯示顯示了回聲的幅度與傳輸時(shí)間的關(guān)系。
*僅適用于MX2-DL型號(hào)
美國(guó)達(dá)高特DAKOTA腐蝕測(cè)厚儀MX1-DL-2DL特點(diǎn)
Model MX1-DL MX2-DL Display Mode Material thickness digits display B-Scan cross sectional display Combined B-Scan and digits display Scan Bar Display A-Scan Display + Rectified, - Rectified, Full Waveform (RF) Measurement Rate Manual 8 readings per second 8 readings per second Scan Mode 250 readings per second 250 readings per second Scan bar display 10 readings per second 10 readings per second Measurement Resolution 0.01mm (0.001”) 0.01mm (0.001”) Velocity Calibration Range 309.88 - 18,542m/s
(0.0122 - 0.7300in/µs)309.88 - 18,542m/s
(0.0122 - 0.7300in/µs)Additional Features High Speed Scan Mode Differential Mode Limit alarm mode B-Scan Display Speed 10 to 200 readings per second 10 to 200 readings per second Calibration Setups 64 user-definable setups transferable to and from a PC archive 64 user-definable setups transferable to and from a PC archive Gates • PE: 1 gate; EE: 2 gates, 1 gate with hold off
• Adjustable thresholdPulser Type 150 volt square wave pulser Square wave pulser with adjustable pulse width (spike, thin, wide) Gain Manual or automatic gain control (AGC) with 50dB range (depending on mode selected) Manual or automatic gain control (AGC) with 40dB range (depending on mode selected) Timing Precision temperature controlled crystal oscillator (TCXO) timing with single shot 100MHz 8bit ultra-low power digitizer 20 MHz with ultra low power 8 bit digitizer Memory and Data Logging • 4GB internal memory
• Sequential and grid logging
• Alpha numeric batch identification
• OBSTRUCT indicates inaccessible locations
• Bitmap graphic capture and capture viewer• 4GB internal memory
• Sequential and grid logging
• Alpha numeric batch identification
• OBSTRUCT indicates inaccessible locations
• Bitmap graphic capture and capture viewerTransducer Probe Type Dual element Dual element Transducer Frequency Range 1 - 10MHz 1 - 10MHz Transducer Recognition Manual - selectable from a list Manual - selectable from a list V-path / dual path error correction Automatic Automatic Probe Zero Manual (via integrated probe disk) Manual (via integrated probe disk) Display 1/8 VGA (greyscale)
62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable area1/8 VGA (greyscale)
62 x 45.7mm (2.4 x 1.8”) viewable areaDisplay Refresh Rate 25Hz 25Hz Units (selectable) mm or inches mm or inches LED Backlight on/off/auto on/off/auto Repeatability / Stability Indicator
美國(guó)達(dá)高特DAKOTA腐蝕測(cè)厚儀MX1-DL-2DL技術(shù)參數(shù)
Part Number Description Certificate Z-160-0005 Dakota MX1-DL Thickness Gauge (MMX-7) Z-149-0006 Dakota MX2-DL Thickness Gauge (MVX) Transducer Probe Type Dual Element Measurement Accuracy1 0.01mm (0.001”) Memory 4GB Internal Memory Operating Temperature -10 to 60ºC (14 to 140ºF) Data Output USB Power Supply 3 x AA batteries and via USB Battery Life Alkaline – 35 hrs, Nicad – 10 hrs and NI-MH – 35 hrs Gauge Weight 383g (13.5oz) - including batteries Gauge Dimensions 63.5 x 165 x 31.5mm (2.5 x 6.5 x 1.24”) Packing List Unit, Selectable Transducer, Couplant, Manual, Plastic Carrying Case, Certificate of Calibration and AA Batteries. PC Software and Data Transfer Cable included with data logging gauges.
1測(cè)量范圍和精度取決于材料、表面條件和所選傳感器
2在連續(xù)測(cè)量模式下,電池壽命約為。
●校準(zhǔn)證書作為標(biāo)準(zhǔn)提供
工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MIL-STD-45662
零件編號(hào)Dakota MX腐蝕測(cè)厚儀
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留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
- 電 話:0755-83981822/82513866
- 手 機(jī):13662293689
- 傳 真:0755-83986906
- 郵 箱:taili668@vip.163.com
- 郵 編:518172
- 地 址:深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址:
https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.talenttrove.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
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- 地下管線探測(cè)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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