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德國(guó)FOERSTER渦流電導(dǎo)率測(cè)定儀TCM2.142
詳細(xì)信息
德國(guó)FOERSTER渦流電導(dǎo)率測(cè)定儀TCM2.142
功能特點(diǎn)
寬頻率范圍：允許測(cè)量不同的材料厚度。
屏蔽式探頭：有助于避免邊緣效應(yīng)。
減少磨損：特殊設(shè)計(jì)的探頭，采用耐用的鈦金屬外殼，延長(zhǎng)使用壽命。
易于操作：自動(dòng)識(shí)別探頭并加載正確的校準(zhǔn)曲線。
精確可靠的電導(dǎo)率測(cè)量
電導(dǎo)率測(cè)量決定了材料的物理和技術(shù)性能。SIGMATEST是制成品質(zhì)量控制的理想選擇，同時(shí)也可用于檢測(cè)材料成分和分類金屬、合金和廢料。進(jìn)一步的應(yīng)用包括飛機(jī)維修的熱損傷檢測(cè)，以及金屬工業(yè)生產(chǎn)中的過(guò)程控制。
SIGMATEST模塊與特殊的電導(dǎo)率探頭搭配使用，這些探頭是在FOERSTER校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室20°C下校準(zhǔn)的，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)可溯源PTB、NIST或NPL標(biāo)準(zhǔn)。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在傳感器上，可通過(guò)TCM讀取，使高精度的電導(dǎo)率測(cè)量成為可能。
單次測(cè)量由觸摸模式觸發(fā)。如果需要對(duì)表面進(jìn)行掃描，測(cè)量數(shù)據(jù)可以連續(xù)輸出并顯示在時(shí)間圖中。
渦流檢測(cè)和電導(dǎo)率測(cè)量探頭及試塊 - 適用各種應(yīng)用的探頭
多種多樣具有相應(yīng)性能的探頭可用于裂紋檢測(cè)。
絕對(duì)式探頭： 無(wú)方向性；基材影響較大。
差分探頭：具有方向性（對(duì)縱向缺陷不敏感），低基材影響。
交叉繞組探頭：具有方向性（對(duì)45°缺陷不敏感），低基材影響。
這些探頭中的每一個(gè)元件都可以合并集成各種各樣的探頭形狀。除了廣泛的標(biāo)準(zhǔn)傳感器的選擇，F(xiàn)OERSTER
還提供定制的傳感器形狀，即使是*難以到達(dá)的測(cè)試位置也可實(shí)現(xiàn)。同樣，探頭也可以采用其他選擇，如集成在特殊導(dǎo)套中或裝配在鈦金屬的防磨保護(hù)殼內(nèi)。每個(gè)探頭元件也可構(gòu)造成具有多達(dá)512個(gè)集成元件的陣列探頭。
所有經(jīng)過(guò)SIGMATEST 2.070系統(tǒng)驗(yàn)證過(guò)的探頭都可用于電導(dǎo)率測(cè)量；同時(shí)我們也提供鈦金屬外殼的耐磨探
頭。以下直徑都是可用的。
14 mm
8 mm
5 mm
德國(guó)FOERSTER渦流電導(dǎo)率測(cè)定儀TCM2.142
裂紋檢測(cè)參考試塊提高了準(zhǔn)確性
對(duì)于裂紋檢測(cè)，測(cè)試系統(tǒng)的靈敏度主要使用由被測(cè)材料制成的扁平裂紋試塊來(lái)調(diào)整。由于測(cè)試靈敏度取決
于試塊的質(zhì)量，因此試塊必須符合*高精度的尺寸公差。為了進(jìn)一步保證逐點(diǎn)測(cè)量后的質(zhì)量，F(xiàn)OERSTER
可以提供激光顯微鏡的精確尺寸測(cè)定（可選項(xiàng)）。
建立帶有旋轉(zhuǎn)探頭槍的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行裂紋測(cè)試也需要試塊。同樣，由待測(cè)材料制成-內(nèi)孔式試塊。這些試塊有兩種式樣：
SCCS試塊 （分開(kāi)式）
CSRP試塊（帶侵蝕裂縫）
使用適當(dāng)?shù)碾妼?dǎo)率試塊可用來(lái)檢查和設(shè)置SIGMATEST模塊的電導(dǎo)率測(cè)量。該試塊品質(zhì)質(zhì)量越好，*終測(cè)量
結(jié)果越好。因此，即使是原材料也必須達(dá)到嚴(yán)格的要求。例如，材料必須具有均勻的材料結(jié)構(gòu)。FOERSTER
提供的電導(dǎo)率試塊，可溯源到NPL（英國(guó)國(guó)家物理實(shí)驗(yàn)室）的交流測(cè)量以及PTB（德國(guó)物理技術(shù)研究院）的
直流測(cè)量。
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