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美國BH貝克休斯接觸式雙晶直探頭SEB
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美國BH貝克休斯接觸式雙晶直探頭
直通波束接觸式傳感器，雙晶片
應用
·腐蝕剩余壁厚測量
·近表面探傷
·小部件-螺釘、螺栓、銷釘
·堆焊層檢測
·粘結檢測
·鐵路車輪檢測
·軸、棒、坯料的芯部缺陷
·適用于粗晶粒材料檢測
功能特點和優(yōu)勢
·出色的近表面分辨率
·提高了在彎曲和粗糙表面上的耦合效果
·減少散射噪聲
·可根據工件曲率加工探頭曲率
·歐式型號具有側面安裝的Lemo 00連接器、側面安裝的Microdot(SEB.KF型)
·美式型號具有固定的BNC線纜(ADP)或側面安裝的MMD(FDU)接口
線纜
SEKG2(53887
SEKM2(53001)
注釋
適用于SEBL、MSEB
適用于SEBKF
探頭型號
SEB 1
SEB 1-EN
SEB 2
SEB 2-EN
SEB 2-0°
SEB 2-EN-0°
SEB 4
SEB 4-EN
SB 4-00
SE4-EN-0°
MSEB 2
MSEB 2-EN
MSEB 4
MSEB 4-EN
MSEB 4-0°
MSEB 5
SEB 2 KF5
SEB 4 KFB
SEB 4 KF8-EN
SB 5F
SEB10 KF3
SEB10 KF3-EN
符合DIN EN 12668-2標準
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留 言
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