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德國Fischer鍍層厚度測量儀X-RAY XDL
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德國FISCHERSCOPE 鍍層厚度測量儀 X-RAY XDL
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,配備可編程運(yùn)行 X/Y 工作臺及 Z 軸升降系統(tǒng),全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,用于快速、無損分析材料成分及測量鍍層厚度
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