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德國耐馳差示掃描量熱儀DSC204
詳細(xì)信息
差示掃描量熱儀(DSC)使樣品處于程序控制的溫度下,觀察樣品和參比物之間的熱流差隨溫度或時(shí)間的變化,廣泛應(yīng)用于塑料、橡膠、涂料、食品、醫(yī)藥、生物有機(jī)體、無機(jī)材料、金屬材料與復(fù)合材料等領(lǐng)域。
測(cè)量特性
熔融與結(jié)晶過程
玻璃化轉(zhuǎn)變
氧化穩(wěn)定性/氧化誘導(dǎo)期 O.I.T.
多晶形
相容性
反應(yīng)動(dòng)力學(xué)
液晶轉(zhuǎn)變
材料鑒別
DSC 204 F1 Phoenix 靈活而強(qiáng)大的差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀 DSC 204 F1在儀器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與靈活性方面又有新的突破。其他特別的功能與選件包括 192 樣品位 + 12 位自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng) 、新型紫外光附件、智能化 BeFlat 修正功能、高級(jí)DSC校正、溫度調(diào)制 DSC(TM-DSC)、逸出氣分析等,使得 DSC 204 F1 Phoenix 成為靈活而強(qiáng)大的 DSC 系統(tǒng)之一。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
不同行業(yè)、不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)y(cè)試工具的需求有所不同。NETZSCH儀器擁有杰出的性能、豐富的配置,為客戶應(yīng)用提供強(qiáng)有力的支撐。
溫度范圍: -180 ... 700°C
升/降溫速率: 0 ... 200 °C/min
分辨率: 0.1µW/0.02µW
溫度調(diào)制 DSC(TMDSC): 選配
比熱功能: 選配
DSC功能擴(kuò)展: 智能模式、專家模式、自動(dòng)校正、Tau-R高級(jí)校正、比熱功能
自動(dòng)進(jìn)樣器: 選配,192個(gè)樣品位
制冷系統(tǒng): 壓縮空氣、機(jī)械制冷、液氮制冷、冷卻杯
雙制冷: 選配,可軟件切換
傳感器: 獨(dú)特的Arena傳感器,支持高速升降溫
熱分析高級(jí)軟件: 標(biāo)配
基本功能
耐馳儀器不但遵循絕國際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),而且提供更完善、更靈活的功能,幫助客戶更深入、更有想象力地應(yīng)用。
DSC基本功能
測(cè)定吸熱/放熱行為:可確定起始點(diǎn),峰值,拐點(diǎn)和終止點(diǎn)溫度,可進(jìn)行自動(dòng)峰搜索。峰面積/熱焓計(jì)算:可選多種不同類型基線,可進(jìn)行部分面積分析。峰的綜合分析:在一次標(biāo)注中可同時(shí)得到溫度、面積、峰高與峰寬等各種信息。結(jié)晶度計(jì)算。全面的玻璃化轉(zhuǎn)變分析。自動(dòng)基線扣除。比熱測(cè)試與分析。 BeFlat:使用多項(xiàng)式擬合,對(duì)不同升溫速率下的基線進(jìn)行擬合扣除。 Tau-R 模式: 將儀器的時(shí)間常數(shù)與熱阻因素納入計(jì)算并加以扣除,能得到更尖銳的 DSC 峰。 TM-DSC(溫度調(diào)制 DSC,可選):可以從總熱流曲線中分離可逆熱流(熱力學(xué))和不可逆熱流(動(dòng)力學(xué))效應(yīng)。另有符合 GLP、GMP、21CFR 等標(biāo)準(zhǔn)的特別軟件功能。
豐富的附件選擇
NETZSCH 熱分析儀器能夠根據(jù)客戶的要求配置多種附件進(jìn)行系統(tǒng)優(yōu)化和擴(kuò)展。
制冷系統(tǒng)
液氮制冷系統(tǒng) CC 200 F1(可切換液氮 LN2 與氣氮 GN2 兩種模式)、機(jī)械制冷系統(tǒng)、空氣壓縮制冷系統(tǒng)。
寬廣的坩堝選擇范圍
鋁、銀、金、銅、鉑、氧化鋁、氧化鋯、石墨、不銹鋼壓力坩堝等各種類型的坩堝,以滿足幾乎所有可能的測(cè)試需求。
3in1樣品盒
專為新型 Concavus 坩堝設(shè)計(jì)的 3in1 樣品盒能為坩堝的運(yùn)輸與儲(chǔ)存提供全面的保護(hù),且防止由靜電導(dǎo)致的坩堝之間的粘連。每個(gè)盒子都配有樣品標(biāo)簽卡,方便樣品及測(cè)量結(jié)果的存檔,這尤其適用于需要長期保存樣品,定期復(fù)測(cè)的應(yīng)用場(chǎng)合。
應(yīng)用實(shí)例
幾十年來,耐馳在應(yīng)用方面積累了海量的經(jīng)驗(yàn)。我們希望能通過這些經(jīng)驗(yàn),拋磚引玉,為客戶的實(shí)際應(yīng)用帶來啟發(fā)。
聚丙烯動(dòng)態(tài) OIT分析
高密度聚乙烯的熔融測(cè)量
EVA薄膜樣品熱行為研究
氧化誘導(dǎo)期(OIT)和氧化起始溫度(OOT)的測(cè)定(DSC)
坩堝類型對(duì)氧化誘導(dǎo)時(shí)間測(cè)試的影響
留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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