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貝克休斯 延遲塊直探頭歐規(guī)
詳細(xì)信息貝克休斯 延遲塊直探頭 歐規(guī)
歐洲規(guī)格G...MN系列
A=11B=13 C=25.6
晶片直徑5mm帶寬45-65 Microdot接口，延遲塊需單獨(dú)訂貨
型號(hào)
頻率
近場(chǎng)距離
G5MN
5MHz
5mm
G10MN
10MHz
10mm
G15MN
15MHz
15mm
9.5mm延遲塊CLFV1
12.5mm延遲塊CLFV3
北美規(guī)格DFR系列
Mini-DFR:A=10.4mmB=19.6mm C=4.8mm
6mm晶片DFR:A=13mmB=21.3mm C=7.6mm
13mm晶片DFR:A=22.4mmB=35.1mm C=15.2mm
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Mini-DFR探頭晶片尺寸3mm,頻率20MHz,帶寬50-100,Microdot接口
型號(hào)：FDCP--XCDR MINIDFR 20X.12
探頭訂貨號(hào)：113-518-650，延遲塊訂貨號(hào)：118-400-502
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6mm/13mm晶片DFR探頭6dB帶寬范圍50% -100%
DFR探頭訂貨號(hào)：
探頭頻率
晶片直徑
探頭訂貨號(hào)
2.25
6
113-122-660
13
113-140-500
3.5
6
113-123-660
5
6
113-124-660
13
113-144-660
10
6
113-126-660
13
113-140-602
15
6
113-127-660
配合6mm晶片的9.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-050
配合6mm晶片的12.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-051
配合13mm晶片的12.5mm延遲塊訂貨號(hào)：118-440-052
筆試探頭K-PEN
聚集，高分辨率筆式探頭
延遲塊、手柄可更換
極小接觸面，用于高度彎曲表面，如渦輪葉片
能夠伸到表面凹坑底部測(cè)量壁厚
探頭訂貨號(hào)：
7.5MHz
20MHz
筆直探頭
389-042-200
389-030-290
45°探頭
389-042-880
389-041-270
90°探頭
389-042-870
389-040-66
尖端直徑1.7mm延遲塊387-003-109
尖端直徑2.3mm延遲塊387-003-110
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
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http://m.talenttrove.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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