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    奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀和相控陣探頭 多選

    產品型號: 多選
    品  牌: 奧林巴斯
    • ≧1 臺
      ¥8050.00
    所 在 地: 廣東深圳
    更新日期: 2024-09-16
    詳細信息
    奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀和相控陣探頭 多選
     
    我們生產的相控陣(PA)儀器可進行快速檢測,并生成被測工件內部結構的精確、詳細的橫截面圖像。相控陣技術使用多個超聲晶片及電子時間延遲,創(chuàng)建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波,以進行快速檢測、完整的數據存儲,以及多角度的檢測。相控陣技術可提供極為精確可靠的測量結果。

     
    OmniScan X3



    OmniScan MX2


    OmniScan SX


    EPOCH 1000


    典型相控陣探頭的頻率范圍在1  MHz到17 MHz之間,晶片數量在10個到128個之間。奧林巴斯提供各種使用壓電復合材料技術的探頭,適用于多種類型的檢測。這里說明奧林巴斯的標準相控陣探頭。這些探頭分為3種類型:角度聲束探頭、整合楔塊探頭,以及水浸式探頭。
     
    還可以設計其他類型的探頭,以滿足您的應用需求。
     
    線性陣列探頭是工業(yè)應用中常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的重要特征之一是激活的探頭孔徑。
     
    定制的相控陣探頭和楔塊
    為定制相控陣探頭和/或楔塊
     
     
     

    奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀和相控陣探頭 多選
     
    焊縫系列探頭
    焊縫檢測探頭的線纜會從其外殼的前面或頂部伸出,這樣就可以避免線纜纏繞到掃查器的探頭架。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。A31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊以其簡約的設計,不僅使焊縫檢測得到了簡化和標準化,而且還改進了信噪比。

     
    優(yōu)勢特性
    適用于焊縫檢測的優(yōu)化設計
    領先的信噪比性能
    寬泛的厚度測量范圍
    新穎的楔塊概念,可改進與工件的耦合效果
    在聲學上,可與Rexolite匹配
    典型應用
    A31和A32探頭
     
    使用角度聲束對3毫米到60毫米厚的焊縫進行手動或自動檢測
    提供用于橫波或縱波檢測的創(chuàng)新型楔塊設計



    在被動軸上聚焦(PAF)的楔塊
    這個已獲專利的聚焦楔塊系列在對管道周向上的環(huán)焊縫進行檢測時,有助于補償聲束在被動軸方向的發(fā)散現象。寬度較小的聲束可以對掃查軸方向上的較短的缺陷進行定量,從而有助于降低報廢率,并提供更清晰的圖像。


    碳鋼
    管道和平板
    奧林巴斯用途廣泛的焊縫檢測解決方案采用多種技術對平板和外徑等于或大于4.5英寸的管道進行多產高效的檢測。相控陣、衍射時差以及常規(guī)超聲等技術在檢測過程中可被單獨使用,也可以組合在一起使用,以覆蓋整個焊縫,并獲得很高的檢出率。
     
    這種解決方案還可以使用不同的掃查方式,獲得缺陷定位和定量的準確數據。掃查器具有優(yōu)質的穩(wěn)定性和編碼性能,不僅可使檢測符合規(guī)范的要求,還可獲得質量更好的檢測數據。在以手動、手動編碼、半自動或自動方式進行掃查并收集數據時,需使用不同的掃查器。
     
    奧林巴斯的碳鋼焊縫檢測解決方案將奧林巴斯的采集設備、掃查器、探頭,以及根據用戶的需要量身定做的軟件結合在一起使用。這種解決方案可以進行缺陷的長度和深度定量,以根據規(guī)范做出接收/拒絕的判斷。
     
    復合式掃查
    一次單組復合式掃查所覆蓋的區(qū)域相當于兩個扇形掃查所覆蓋的區(qū)域奧林巴斯的NDT SetupBuilder更新版軟件提供了進行復合式聲束掃查的性能。這項創(chuàng)新型檢測策略將扇形聲束和線性聲束混合在一起,進行檢測,具有很多優(yōu)勢特性,例如:
    更高的檢出率
    檢測更厚的材料
    更快的檢測速度
    更短的設置和校準時間
    更快的數據分析


    焊縫系列PA探頭和楔塊
    A31和A32相控陣探頭和楔塊具有獨特性能,可使檢測達到更高的水平。
    改進了信噪比
    符合人體工程學的設計
    改進了耦合效果
    可以進行復合式掃查


    高溫檢測
    如果用戶要求,我們可以提供一種與新款A31和A32相控陣探頭和奧林巴斯的Mini-Wheel(袖珍輪)編碼器相兼容的高溫楔塊選項。這種可選楔塊有助于對表面溫度高達150 ⁰C的工件進行檢測。


     
    次軸聚焦(PAF)楔塊


    已獲得專利權的奧林巴斯次軸聚焦楔塊系列產品有助于補償次軸方向上的聲束擴散問題,從而可以有效地進行管道環(huán)焊縫的檢測。較小的聲束寬度可以在掃查軸方向上定量較短的缺陷,從而有助于降低廢品率。此外,由于聲束能量的聚焦改進了信噪比(SNR),從而使缺陷圖像更加清晰。
     
     
     

    雙矩陣(DMA)探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭,具有使用發(fā)送-接收縱波(TRL)聲束進行檢測的能力。這類探頭在檢測帶堆焊層的管道或具有高衰減性的材料時,特別有用。

     
    相控陣探頭的優(yōu)勢特性
    具有在粒狀材料中發(fā)送和接收縱波的能力
    增強了在不銹鋼材料中的穿透能力,其中包括奧氏體、耐腐蝕合金,以及異種材料焊縫
    出色的信噪比
    典型應用
    A17、A25、A26和A27探頭
     
    不銹鋼焊縫的應用
     
    耐腐蝕合金(CRA)
    不銹鋼
    奧氏體材料
    帶堆焊層的管材
    異種材料焊縫
     



    用于腐蝕檢測的雙晶陣列探頭
    雙晶線性陣列探頭,在腐蝕檢測應用方面,為檢測人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度,以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能,從而可提高檢測效率。

     
    用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列(DLA)探頭,與常規(guī)超聲雙晶探頭相比,具有更多優(yōu)勢特性。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度,以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能,從而可提高檢測效率。與標準相控陣脈沖回波相比,這種新探頭所采用的一發(fā)一收技術在腐蝕測量應用中可提供更好的近表面分辨率和點蝕探測能力,提高了臨界性壁厚減薄情況的檢出率。得益于其內置灌溉和可更好地貼附于管道弧面的可更換式延遲塊等新功能,雙晶線性陣列(DLA)腐蝕探頭現在可用于進行自動檢測。
     
    探頭的優(yōu)勢和特性
    可探測表面以下1毫米的缺陷
    性價比較高的可更換式延遲塊
    內置灌溉
    高溫選項,可掃查熱表面
    聲束覆蓋寬度高達30毫米
    用途廣泛且調整迅速的系統(tǒng),適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測
    堅固耐用的硬質合金防磨板,可保護楔塊
    碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米
    USB存儲盤中的OmniScan配置文件(MX、MX2和SX)


    OmniScan軟件特性
    側視圖、端視圖和俯視圖成像(B掃描、D掃描和C掃描)
    完整的高分辨率A掃描存儲
    兩個可配置的探測閘門
    在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機中進行離線分析


    新特性,新潛能
    雙晶線性陣列(DLA)腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀的組合是一種經濟實惠的檢測選項。這種解決方案設置方便,操作簡單:加載所提供的設置文件,核查校準情況,然后檢測并記錄數據。無需使用脈沖發(fā)生/接收(PR)儀器。無論是使用編碼器對某個區(qū)域進行手動掃查,還是使用MapROVER電動掃查器進行高速、全體積成像,雙晶線性陣列(DLA)腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速輕松地完成C掃描成像操作。創(chuàng)新型探頭穩(wěn)定系統(tǒng)與可更換式弧面延遲塊和灌溉功能相結合,可在直徑小至4英寸的管材表面提供優(yōu)質的聲束傳播效果。我們還提供可檢測溫度高達150°C表面的雙晶線性陣列(DLA)腐蝕探頭的高溫版本。
     
    在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。

    雙晶陣列一發(fā)一收技術
    與雙晶UT探頭一樣,雙晶線性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片,這兩組晶片被分別安裝在以一定角度切割的延遲塊的兩部分上。這種配置生成在被測工件表面以下聚焦的聲束,從而可大幅降低表面反射的波幅。而且還提高了近表面分辨率,可獲得點蝕、蠕變損傷和HIC(氫致裂紋)等關鍵性缺陷的更高的檢出率。
     
     
     
    HTHA探頭
    在探測高溫氫致(HTHA)缺陷的應用中,這些優(yōu)化的雙晶線性陣列探頭和全聚焦方式(TFM)探頭可以提供更寬泛的掃查角度范圍和擴展的聚焦范圍,而且在使用較高的增益時,還可以提高信號響應的質量。

     
    使用多技術探頭對高溫氫致缺陷(HTHA)進行有效的探測
    覆蓋更多的焊縫區(qū)域和熱影響區(qū)(HAZ)— 角度聲束DLA探頭(A28)
    1.高分辨率,10 MHz,32個小晶片,雙晶陣列
    2.很高的聲束偏轉能力
    3.其已獲專利的樞軸外殼可提供更長聚焦范圍,從而可獲得更高的檢出率(POD)
    4.帶有屋頂角的系列楔塊可以在次軸方向上4毫米到95毫米的深度范圍內聚焦


    快速高溫氫致(HTHA)缺陷掃查 — 零度DLA探頭(REX1)
    1.10 MHz,64個晶片,雙晶陣列
    2.聲束寬度覆蓋范圍高達30毫米
    3.可以調節(jié)的穩(wěn)固和硬質合金防磨裝置,可以緊密地貼合在外徑小至101.6毫米的管道表面上
    4.整合型楔塊可以覆蓋從4毫米到95毫米的厚度范圍
    在與一個編碼器或掃查器配套使用時,可以提供清晰的C掃描圖像

    早期高溫氫致(HTHA)缺陷的探測 — 經過優(yōu)化用于探測高溫氫致(HTHA)缺陷的全聚焦方式(TFM)探頭(A31/A32)
    1.包含多個更小的晶片,高頻率,在探測高溫氫致(HTHA)缺陷時,可以充分發(fā)揮全聚焦方式(TFM)檢測的潛力
     

    手動接觸式探頭
    奧林巴斯用于手動接觸式檢測的A24探頭系列擁有一個符合人體工程學要求的外殼設計,其薄膜可以更換,可以提供較大的正方形孔徑,因而可用于多種不同的應用。厚度為0.5毫米的薄膜更便于核查耦合情況,使探頭在粗糙的表面上順滑地移動,而且可以防止探頭受到磨損。


     
    奧林巴斯的A24探頭系列用于手動接觸式檢測,采用符合人體工程學的外殼設計,其薄膜可以更換,提供較大的方形孔徑,可用于多種不同的應用。厚度為0.5毫米的薄膜使對耦合情況的核查更加簡單,使探頭在粗糙的表面上順滑地移動,還可防止探頭受到磨損。
     
    探頭特性
    A24 Atlas系列
     
    使用壽命長:可更換的防磨面延長了探頭的使用壽命
    用途廣泛:縱波0°檢測,掃頻+30°到 -30°
    覆蓋很寬的厚度范圍:2.0 MHz和4.0 MHz探頭具有這個特性
    熟悉的外殼樣式:采用相控陣技術的標準Atlas系列外殼
    非常適用于以下檢測操作:
    橋梁的銷釘和螺栓
    鍛件
     



    EdgeFORM
    汽車制造商使用EdgeFORM相控陣解決方案對卡車、發(fā)動機罩和車門面板的粘結或粘膠接縫進行檢測,以發(fā)現粘合不足或缺少粘膠的空隙缺陷。
     

    接縫檢測
    汽車制造商使用EdgeFORM相控陣輪式探頭對后備箱、引擎蓋和車門面板的粘合或膠合接縫進行檢測,以發(fā)現粘合不足或缺少粘膠的情況。這種探頭還非常適合于檢測復合材料及其他表面光滑的材料。

    優(yōu)勢特性:
    只需少量耦合劑,即可獲得優(yōu)質耦合效果
    近表面分辨率可達1毫米
    檢測厚度在0.5毫米到1.5毫米范圍內平坦、光滑和彎曲的面板
    可檢測厚度達20毫米的鋁板,在帶有10毫米延遲塊時
    可以覆蓋 長達32毫米的粘合接縫
    調節(jié)導輪可以優(yōu)化信號的穩(wěn)定性
    取決于對分辨率的要求,可提供1.0毫米和0.36毫米的晶片間距

    前沿技術
    探頭的零度超聲聲束和內置編碼器有助于生成清晰的C掃描圖像。如果粘接良好,所發(fā)送的聲束能量會在穿過粘膠層和金屬板時發(fā)生衰減。如果粘結不好,則聲束會反射回來。OmniScan探傷儀中的閘門有助于識別接縫,并將其顯示在C掃描中。C掃描圖像使用不同的顏色表現不同的信號波幅。

    獨特的探頭設計
    可調節(jié)的輪子
    可以調節(jié)垂直軸和水平軸上的孔徑,以覆蓋多種面板幾何形狀。水平范圍為32毫米,垂直范圍可在+2.5毫米和-2.5毫米之間調節(jié)。
     
    重量輕,且符合人體工程學要求
    掃查器重量很輕(0.3公斤),符合人體工程學要求,可以在平面或曲面車身面板上平穩(wěn)掃查。
     
    創(chuàng)新型透明輪胎
    輪胎由一種獨特的材料制成,有助于完成與水浸檢測相仿的高質量的檢測。透明輪胎上有一個可以方便接觸到的充水端口,有助于辨別水艙中的氣泡,并將氣泡清除。

    1.對齊固定螺釘

    2.磁性編碼器

    3.相控陣探頭

    4.鎖緊式拇指螺釘

    5.調節(jié)標度

    6.容易接觸到的充水端口


    1.聚合物聲學輪

    2.調節(jié)旋鈕

    3.符合人體工程學的外殼

    4.可調節(jié)的導輪
     



    小底面探頭
    小底面探頭可進入到空間非常狹窄的區(qū)域進行檢測(A00探頭的底面尺寸為8×8毫米)。

     
    小底面探頭可進入到空間非常狹窄的區(qū)域進行檢測(A00探頭的底面尺寸為8毫米×8毫米)。并為這類應用提供一種設計特殊的小底面楔塊。電纜連接器可以從這些探頭的側面或頂部伸出來。
     
    優(yōu)勢特性
    可進入狹窄的區(qū)域(A00探頭的底面面積為8毫米 × 8毫米)
    電纜連接器可以從探頭的側面或頂部伸出來
    (進A0)
    設計特殊的小底面楔塊
    10L16-A00用于航空航天領域的劃痕檢測應用
     



    通用探頭
    通用探頭將薄型探頭/楔塊組合在一起,可以更容易地進入到空間狹小的區(qū)域進行檢測。奧林巴斯還提供多種楔塊供用戶選擇,以幫助用戶完成各種角度聲束檢測應用。這些探頭不僅可對6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進行手動或自動檢測,還可以探測到鑄件、鍛件、管道、機加工部件及結構部件中的裂紋和焊縫缺陷。

     
    通用探頭采用將薄型探頭/楔塊組合在一起的設計,便于進入到狹小的區(qū)域進行檢測。奧林巴斯還提供適用于各種角度聲束應用的多種楔塊供用戶選擇。這些探頭用于手動或自動檢測6.35毫米到38毫米厚的焊縫,還可以探測到鑄件、鍛件、管道、管材、機加工及結構部件中的裂紋和焊接缺陷。
     
    優(yōu)勢特性
    探頭采用將薄型探頭/楔塊組合在一起的設計,便于進入到狹小的區(qū)域進行檢測
    在聲學上適應Rexolite的聲波層
    探頭上配有錨拴螺釘
    奧林巴斯還提供適用于各種角度聲束應用的多種楔塊供用戶選擇
     
    典型應用
    A10、A11和A12探頭
    手動或自動檢測6.35毫米到38毫米厚的焊縫
    缺陷探測和定量
    檢測鑄件、鍛件、管道、管材、機加工和結構部件中的裂紋和焊接缺陷
     



    近壁探頭
    近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)(*晶片的中心和*后晶片的中心到與它們*近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。它們非常適用于復合材料的通道檢測和復合材料的C掃描檢測(分層、脫粘和多孔性)。

     
    近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)(*晶片和*后晶片的中心到離它們*近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。它們非常適用于復合材料的通道檢測和復合材料的C掃描檢測(分層、脫粘和多孔性)。
     
    優(yōu)勢特性
    兩端具有較短的盲區(qū)(*晶片和*后晶片的中心到離它們*近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)
    非常適合于復合材料通道檢測
    可用于復合材料的C掃描檢測(分層、脫粘、多孔性)
     



    深穿透探頭
    深穿透探頭可與多種楔塊配合使用,完成各種角度聲束的檢測應用。這些探頭專用于完成深穿透檢測應用,如:對較厚的平板、焊縫、鍛件,以及噪聲大或粒狀性材料的檢測。

     
    深穿透探頭可與多種楔塊配合使用,完成各種角度聲束檢測應用。這些探頭專用于完成深穿透檢測應用,如:對較厚的平板、焊縫、鍛件,以及噪聲較大或粒狀材料的檢測。
     
    優(yōu)勢特性
    聲波層與Rexolite在聲學上相適應
    探頭上配有錨拴螺釘
    還提供適用于各種角度聲束應用的多種楔塊供用戶選擇
    典型應用
    A3、A4和A5探頭
     
    深穿透應用
    厚平板和焊縫
    鍛件
    噪聲較大或粒狀材料
     

    水浸探頭
    水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用,或者用于當被檢樣件部分或全部浸入水中時,在水浸箱中進行檢測。這類探頭屬縱波探頭,但經過設置后,使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。

     
    水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用,或者在被檢工件部分或全部浸入水中時,在水浸箱中進行檢測。這類探頭屬縱波探頭,但經過設置后,使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。
     
    優(yōu)勢特性
    其聲阻抗與水匹配
    可裝配到水楔上,以更方便地耦合到多種表面,且其水中聲程可調(當被檢工件不能浸沒到水箱中時)。
    線性掃查可以覆蓋30毫米到90毫米的距離,且檢測的準確性非常高。
    耐腐蝕不銹鋼外殼
    可保證在水下1米深的位置具有防水性
     
    典型應用
    對(鋼、鋁或其他材料制成的)薄板或管子進行檢測
    對復合材料進行檢測,探測出分層和脫粘等缺陷
    在線厚度測量
    自動掃查
     



    曲面陣列探頭
    曲面陣列探頭的外殼由耐腐蝕的不銹鋼材料制成,可以保證在水下不超過1米的深度具有防水性能。這些探頭的聲阻抗與水的聲阻抗匹配。這些探頭與可調節(jié)的水浸楔塊相兼容,不僅可以檢測復合材料的分層缺陷,還可以檢測碳纖維增強聚合物(CFRP)產品的內圓角。

     
    曲面陣列探頭的外殼由耐腐蝕的不銹鋼材料制成,可以保證在水下不超過1米的深度具有防水性能。這些探頭的聲阻抗與水匹配。這些探頭與可調節(jié)的水浸楔塊相兼容,不僅可以檢測復合材料的分層缺陷,還可以檢測碳纖維增強聚合物(CFRP)產品的內圓角。
     
    優(yōu)勢特性
    聲阻抗與水匹配。
    在環(huán)繞半徑的圓周上,分辨率較高
    耐腐蝕不銹鋼外殼
    可保證在水下1米深的位置具有防水性能
    與可調水浸楔塊相兼容
     
    典型應用
    碳纖維增強聚合物(CFRP)圓角的檢測
    對復合材料進行檢測,以探測出分層缺陷
     



    用于曲面陣列探頭的水浸邊角楔塊
    用于曲面陣列探頭的水浸邊角楔塊具有一些特定的半徑和角度,而且還可以對其半徑進行調節(jié),以適用于各種工件的檢測。這些楔塊的設計目的是用于手動掃查,并與袖珍輪式編碼器組合在一起使用。

     
    用于曲面陣列探頭的水浸邊角楔塊具有一些特定的半徑和角度,而且還可以對其半徑進行調節(jié),以適用于各種工件的檢測。這些楔塊的設計目的是用于手動掃查,并與Mini-Wheel(袖珍輪式)編碼器組合在一起使用。
     
    優(yōu)勢特性
    具有一些特定的半徑和角度,而且還可以對其半徑進行調節(jié),以適用于各種工件的檢測
    楔塊的設計可使用戶完成手動掃查
    可與Mini-Wheel(袖珍輪)編碼器一起使用
     



    帶有整合型楔塊并符合規(guī)范的探頭
    這種帶有整合型楔塊并符合規(guī)范的探頭將探頭和楔塊放置在同一個外殼中,從而可使探頭和楔塊的組合件具有很薄的剖面,以完成接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊之間使用耦合劑,因此探頭和楔塊之間會一直保持良好的耦合狀態(tài)。這些探頭除了可對應力腐蝕裂紋進行手動檢測,并完成符合AWS和DGS規(guī)范的應用之外,還可同時使用40°到70°范圍內的角度進行手動焊縫檢測。

     
    這種帶有整合型楔塊并符合規(guī)范的探頭將探頭和楔塊放置在同一個外殼中,可使探頭和楔塊的組合件具有很薄的剖面,以更好地完成接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊之間使用耦合劑,因此探頭和楔塊之間會一直保持良好的耦合狀態(tài)。
     
    這些探頭除了可對應力腐蝕裂紋進行手動檢測,并完成符合AWS和DGS規(guī)范的應用之外,還可同時使用40°到70°范圍內的角度進行手動焊縫檢測。
     
    優(yōu)勢特性
    探頭和楔塊在同一個外殼中
    薄型探頭和楔塊組合件適用于進行接觸式角度聲束檢測
    探頭和楔塊之間的耦合狀態(tài)一直很好,因此無需使用耦合劑
    小巧的探頭和楔塊組裝件,可以非常容易地進入到狹窄區(qū)域
    30°到70°鋼中檢測,橫波或縱波
    持握方便
    用戶可根據自己的需要訂購內置有楔塊的探頭,以適用于特定的曲度半徑。
     
    典型應用
    同時使用40°到70°角度聲束,對6.35毫米到19 毫米厚的表面(對接接頭、角接接頭及T型接頭)進行手動焊縫檢測
    對應力腐蝕裂紋進行手動檢測
    符合AWS和DGS規(guī)范的應用
     
     
     
    用于角度聲束探頭的楔塊
    奧林巴斯可為30°到70°范圍的橫波或縱波角度聲束檢測提供可在鋼中生成0°、45°、55°和60°標準折射角度的楔塊。這些楔塊上帶有不銹鋼螺釘插孔,可使探頭和楔塊牢固地接合在一起。用戶可以訂購IHC楔塊選項,以提高檢測的質量。IHC選項包括噴水孔、用于連接奧林巴斯掃查器的楔塊架上的安裝孔,以及可提高防磨效果的硬質合金條。

     
    優(yōu)勢特性
    可為30°到70°之間的橫波或縱波角度聲束檢測,提供0°、45°、55°和60°的標準鋼中折射角度
    不銹鋼的螺釘插孔可使探頭和楔塊牢固地接合在一起。
    橫向電子掃查取代了手動偏斜運動(使用橫向楔塊)。
    可以訂購IHC楔塊選項,以提高檢測的質量。IHC選項包括噴水孔、用于連接奧林巴斯掃查器的楔塊架上的安裝孔,以及可提高防磨效果的硬質合金條。
    楔塊用于進行手動或自動掃查。
    可以訂購具有特定折射角度的定制楔塊;還可以自行定制楔塊的形狀與輪廓。
     
    如何找到楔塊參數
    在OmniScan或TomoView的楔塊數據庫中找到適當的楔塊。選擇了楔塊型號后,參數會被自動設置。
    如果數據庫中還沒有所需楔塊,您可以從www.olympus-ims.com網址中的技術支持頁面中下載*新的數據庫更新。
    根據隨楔塊提供的楔塊技術規(guī)格表中的值,手動輸入參數值。
    請致電您所在地的銷售代表。
     
     

    奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀和相控陣探頭 多選
     
    相控陣連接器選項
    相控陣超聲檢測(PAUT)正在迅速成為一種很受用戶青睞的非常安全的無損檢測方法。奧林巴斯作為業(yè)內*,為與各種類型儀器一起使用的相控陣探頭提供了多種標準和自定義連接器,供用戶選擇。

     
    相控陣超聲檢測(PAUT)正在迅速成為一種很受用戶青睞的非常安全的無損檢測方法。奧林巴斯作為業(yè)內*,為與各種類型儀器一起使用的相控陣探頭提供多種標準和定制連接器,供用戶選擇。

     
    采用EZ插鎖技術的奧林巴斯OmniScan連接器仍然是行業(yè)標準。奧林巴斯還為包含航空航天、石油化工、電力生產和采礦在內的各種行業(yè)中不斷增加的檢測應用提供全面的技術支持。作為無損檢測產品的全球供應商,奧林巴斯全力以赴為當前和未來的客戶提供技術支持,以滿足他們的檢測需求。

     
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