美國(guó)GE超聲水浸探頭
我們致力于解決超聲領(lǐng)域各種應(yīng)用要求。因此，如果您有檢測(cè)要求，請(qǐng)務(wù)必與我們聯(lián)系，我們將給你一個(gè)*佳解決方案。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測(cè)系統(tǒng) | 超聲波 | X射線(xiàn)
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題
如果您正有一個(gè)檢測(cè)難題需要解決，而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問(wèn)題，那么您需要讀讀這本小冊(cè)子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測(cè)領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過(guò)檢測(cè)驗(yàn)證，得到用戶(hù)的肯定, 并且可以根據(jù)客戶(hù)需要定制。其中必有一種能解決您的檢測(cè)問(wèn)題。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類(lèi)型的探頭歸類(lèi)在一起，從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類(lèi)（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對(duì)檢測(cè)任務(wù)有詳細(xì)的了解。
*好的解決方案是您能發(fā)給我們檢測(cè)物件的圖紙，上面標(biāo)有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊(cè)子里沒(méi)有找到與您的檢測(cè)問(wèn)題相關(guān)的信息，也請(qǐng)把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們，我們的探頭及應(yīng)用專(zhuān)家將很樂(lè)意為您尋求*佳解決方案并為您提供合適的探頭。
特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題
① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測(cè)的斜探頭，能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的。Lemo00接頭。
② IR…型
從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz，6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線(xiàn)。我們也能提供其他
頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來(lái)檢測(cè)橫向缺陷。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m
Lemo1接口探頭線(xiàn)�？商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。
鐵軌檢測(cè)探頭
① SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線(xiàn) ，Lemo接頭。
② SESZW…型
雙晶斜探頭，聲束同時(shí)向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線(xiàn)，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測(cè)鐵軌。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)。用于坯餅檢測(cè)時(shí)請(qǐng)參
考第6頁(yè)，板坯檢測(cè)。關(guān)于其他的檢測(cè)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系我們的技術(shù)人員。
用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護(hù)膜。通過(guò)不同角度延
遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合。
③ ASW…型
斜探頭，用橫波檢測(cè)輪軸中心孔，帶有2m探頭線(xiàn)，Lemo1插頭一個(gè)。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭，MB…S探頭為L(zhǎng)emo00接頭。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭，專(zhuān)為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì)，與Lemo 00插頭匹配。
注釋:
對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差)，請(qǐng)參照第15頁(yè)“粗晶結(jié)構(gòu)材料
的檢測(cè)”。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁(yè)“大型部件檢測(cè)”。
用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成，一根探頭線(xiàn)，帶有4個(gè)Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線(xiàn)，尤其適合板材邊緣檢測(cè)。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭，可更換保護(hù)膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測(cè)平板輥筒。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線(xiàn)一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口，用于產(chǎn)生蘭姆波。
用于大型部件
① NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或
75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相
鄰缺陷。
② WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。
④ GRST…型
相控陣探頭，聲束焦點(diǎn)和角度可變，可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
用于特殊形狀工件
例如飛機(jī)零件
① G…MN，G…KS型
多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測(cè) 量 。 檢 測(cè) 塑 料 時(shí) ， 延 遲 塊 可 根
據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) ， 使 延 遲 塊 跟工件完美耦合，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測(cè)量。
③ SMWB…
小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測(cè)鉚釘孔的裂紋，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測(cè)。
例如：汽車(chē)部件
汽車(chē)零件的檢測(cè)幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的�；钊y門(mén)，輪軸，齒輪檢測(cè)的相關(guān)信
息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點(diǎn)焊檢測(cè)的信息參見(jiàn)第10頁(yè)。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
用于混凝土，石頭，和木材
① B0.05N，B0.05U…型
直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號(hào)衰減弱，Lemo1接頭；只
能用于穿透式檢測(cè)。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭，50KHZ，探頭通過(guò)增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號(hào)，聲束傳播直徑大，Lemo1接
頭，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(cè)(如木材）。
③ K0.1G，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續(xù)時(shí)間
短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測(cè)量超聲傳播時(shí)間。
③ B…SL，G0.5G型
250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。
用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G，K…N 型
高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。
② IB…
2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn)。注釋?zhuān)捍蟛糠謽?biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測(cè)大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。
用于簡(jiǎn)單復(fù)合纖維塑料
① G…NS，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，Lemo00接頭�？梢愿鶕�(jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。
② CA212，CA214
高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。
② G…N，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測(cè)PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測(cè)大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。
說(shuō)明：
關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測(cè) 請(qǐng) 參 見(jiàn) 特 別 版SD277資料，干耦合檢測(cè)相關(guān)信息見(jiàn)第14頁(yè)。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
用于點(diǎn)焊檢測(cè)
① G20MN…型
高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線(xiàn)，由可更換彈性保護(hù)膜密封，用于點(diǎn)焊檢測(cè)；晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測(cè)更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請(qǐng)看特別版SD272。
用于精密部件檢測(cè)
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點(diǎn)焊檢測(cè)。
② H…NA，H…KA，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線(xiàn)，H…M帶1.5m探頭線(xiàn)，Lemo00接頭；尤其適合厚度測(cè)量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)的噴水耦合噴嘴。
膠接層檢測(cè)
例如在滑動(dòng)軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動(dòng)襯板粘結(jié)檢測(cè)，關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測(cè)信息請(qǐng)查閱另外更詳細(xì)的資料SD288。然而，對(duì)于大部分檢測(cè)應(yīng)用要求，標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿(mǎn) 足 。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求，請(qǐng)聯(lián)系我們-我們將為您提供*合適的探頭。
腐蝕檢測(cè)
雙晶探頭檢測(cè)的*小厚度為0.6mm。
DA412
性能與DA312一樣，比DA312多對(duì)話(huà)功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。
DA311
相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301，只是探頭接口在頂部。
DA303
2MHz雙晶探頭，用于測(cè)量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料。
DA0，8G
雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料（例如，鑄件或者塑料）。
DA408
與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對(duì)話(huà)功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。
DA317類(lèi)型
雙晶探頭用于檢測(cè)厚度比較小并且表面溫度*大為300℃的工件，該型號(hào)探頭的耦合穩(wěn)定性非常好。
DA319
與DA312相同，只是該型號(hào)能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件。
HT400
雙 晶 探 頭 用 于 檢 測(cè) 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件，在室溫下可測(cè)量的*小厚度為0.8mm。
DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測(cè)。
DA類(lèi)型
一個(gè)非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測(cè) 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。
CA212，CA214
高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz，通 過(guò) 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護(hù)膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測(cè) 厚 儀 測(cè) 量 厚度值。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
用于測(cè)試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量。
G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。
G…K型為
Microdot接頭。適合測(cè)量縱波聲速。
SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測(cè)量螺栓應(yīng)力。
K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測(cè)量橫波聲速，適用于精密測(cè)厚儀。
注釋?zhuān)?/span>
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里。例 如 可 以 用 來(lái) 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線(xiàn)，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測(cè)量硬化層深度。
注釋?zhuān)?/span>
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測(cè)量的先決條件。參見(jiàn)SD284。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線(xiàn)，Lemo1接頭。適用于純度測(cè)量。
串聯(lián)式焊縫檢測(cè)
45º斜探頭，雙晶片，兩晶片的聲軸交點(diǎn)在焊縫中心；適用于對(duì)接焊。
② D45N2…型
各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測(cè)�？捎糜跈C(jī)械自動(dòng)檢測(cè)。
美國(guó)GE超聲水浸探頭
高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測(cè)
45º，60º，70º斜探頭，頻率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測(cè)。
② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測(cè)量。
LWG854型
防輻射探頭：如檢測(cè)滲水燃油桿。
③ H5KV型
5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測(cè)輸油管道連續(xù)厚度測(cè)量和缺陷檢測(cè)，用特殊的表面保護(hù)層可用于腐蝕性材料檢測(cè)。
④ K5KVB4型
5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測(cè)量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測(cè)。
注釋?zhuān)?/span>
高溫測(cè)厚探頭詳細(xì)資料見(jiàn)第11頁(yè)。
用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細(xì)探頭線(xiàn)�？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。
③ WSY型
90º爬波探頭，Lemo00接頭，用來(lái)檢測(cè)難以接近的位置。
注釋?zhuān)?/span>
爬波在工件表面下沿直線(xiàn)傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑�。所以有些用其他超聲波無(wú)法檢測(cè)到的缺陷可以用爬波檢測(cè)到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。
不用耦合劑（干耦合）檢測(cè)
如果在檢測(cè)工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來(lái)代替。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測(cè)工件耦合。滾筒探頭，
B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒(méi)有耦合的情況下連續(xù)檢測(cè)。在這種情
況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)
使探頭不能與工件耦合。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測(cè)。詳情請(qǐng)參見(jiàn)SD261。
用于粗晶材料的檢測(cè)（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測(cè)粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。
包括：
各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜，延遲線(xiàn)和斜楔。
② WRY…，WSY…
45º，60º，70º縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。
③ VRY…，VSY…
45º，60º，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角、接頭型號(hào)不同的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，我們將給您提供*佳探頭，使其能滿(mǎn)足您的應(yīng)用需求。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)
很多國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測(cè)的檢測(cè)方法和規(guī)范。這些
標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大，在此對(duì)于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。
如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，如果您急需探頭的話(huà)，我
們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料。
奧林巴斯超聲探頭選擇
接觸式探頭：
接觸式探頭是一個(gè)通�？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的極佳的聲阻抗。
接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。
優(yōu)勢(shì)
• 專(zhuān)利WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
• 所有這類(lèi)探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。
• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。
• 可用于檢測(cè)多種材料。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。
• 分層缺陷的探測(cè)和定量。
• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。
• 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。
指尖接觸式
• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。
• 303不銹鋼外殼。
• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。
• 根據(jù)客戶(hù)的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。
6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4；3毫米
（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8。
• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢(xún)我們。
優(yōu)勢(shì)
• 改進(jìn)了近表面的分辨率。
• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。
• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。
• 減少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。
• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。
• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
• 剩余壁厚測(cè)量。
• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。
• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。
• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的*高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為*多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行*少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍尖端雙晶）。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。
優(yōu)勢(shì)
• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，
還表現(xiàn)出極佳的防磨特性。
• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。
• 用戶(hù)可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。
• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
• 具有外形吻合性能。
• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)
計(jì)（參見(jiàn)第15頁(yè)）。
應(yīng)用
• 缺陷探測(cè)與定量。
• 要了解衍射時(shí)差探頭，請(qǐng)參閱第35頁(yè)。
• 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。
袖珍旋入式探頭
• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。
• 不同頻率的探頭顏色不同。
• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專(zhuān)門(mén)與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)�？筛鼡Q延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
保護(hù)面探頭：
保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)大大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測(cè)橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。
保護(hù)面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭，可以裝配延遲塊、保護(hù)膜，或保護(hù)防磨
帽。
優(yōu)勢(shì)
• 具有很強(qiáng)的靈活適用性，提供可拆裝延遲塊、保護(hù)防磨帽和保護(hù)膜。
• 單獨(dú)使用探頭時(shí)（沒(méi)有附加任何可選配件），其環(huán)氧防磨面可提供匹配于塑料、很多復(fù)合材料及其它低阻抗材料的適當(dāng)?shù)穆曌杩埂?/span>
• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊、保護(hù)膜和防磨帽的安裝。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測(cè)
• 厚度測(cè)量
• 高溫檢測(cè)
• 平板、坯材、棒材及鍛件的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)面•
• 探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手套時(shí)抓取和握持探頭。
• 標(biāo)準(zhǔn)的連接器類(lèi)型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器。
• 延遲塊、保護(hù)膜及防磨帽需與探頭分開(kāi)訂購(gòu)。
水浸探頭：
水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線(xiàn)纜一起使用時(shí)，可以完全浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對(duì)必須對(duì)工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來(lái)說(shuō)，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過(guò)增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。
水浸探頭是一種單晶縱波探頭，帶有一個(gè)在聲學(xué)特性上與水相配的1/4波長(zhǎng)的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測(cè)工件中傳播而特別設(shè)計(jì)的。
優(yōu)勢(shì)
• 水浸技術(shù)提供了一種均勻耦合的方法。
• 四分之一波長(zhǎng)的匹配層加強(qiáng)了聲能的輸出。
• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。
• 專(zhuān)利射頻屏蔽功能可以提高關(guān)鍵性應(yīng)用的信噪比特性。
• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進(jìn)行球面（點(diǎn)）聚焦或柱面（線(xiàn)）聚焦。
• 用戶(hù)定制的聚焦長(zhǎng)度可根據(jù)用戶(hù)需求聚焦聲束，以提高檢測(cè)小反射體的靈敏度。
應(yīng)用
• 自動(dòng)掃查。
• 在線(xiàn)厚度測(cè)量。
• 高速探測(cè)管道、棒材、管件、平板及其它類(lèi)似部件中的缺陷。
• 基于渡越時(shí)間和波幅的成像功能。
• 穿透檢測(cè)。
• 材料分析及聲速測(cè)量。
使用注意事項(xiàng)：
探頭浸于水中的時(shí)間不能超過(guò)8小時(shí)。探頭需要有16小時(shí)的干燥時(shí)間，以保證其使用壽命。
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。
• 短波長(zhǎng)可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。
• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類(lèi)型為直角Microdot（RM）。
美國(guó)GE 奧林巴斯 超聲 相控陣 水浸 定制 探頭
