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德國(guó)Belec貝萊克新型緊湊型固定光譜儀 IN-SPECT IN-SPECT
詳細(xì)信息德國(guó)Belec貝萊克新型緊湊型固定光譜儀 IN-SPECT
Belec IN-SPECT是用于金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀。
臺(tái)式儀器以壓縮的方式將復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)室儀器的大部分功能結(jié)合在一起。
德國(guó)belec “貝萊克” 是一家專門生產(chǎn)光發(fā)射直讀光譜儀的公司,采用極高穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性及重復(fù)性的 “光電倍增管” 檢測(cè)系統(tǒng),光學(xué)系統(tǒng)為帕邢-龍格裝置雙光譜室,羅蘭圓直徑300-500mm,可選用波長(zhǎng)由120-800nm,光柵為3600線/毫米,火花探頭采用低損耗烏電極,在同一系統(tǒng)上可升級(jí)到11個(gè)基體及108個(gè)通道,可檢測(cè)的金屬基體包括鋼鐵、鑄鐵、工具鋼、銅、鋁、鎳、鈦、鈷等。
按照特殊的多基體應(yīng)用,可提供CCD感光系統(tǒng)的高性價(jià)比光譜儀。
產(chǎn)品功能
•新5GSO系統(tǒng)提高整體分析效能(第5代光譜儀光學(xué)系統(tǒng))
•新的探測(cè)器,完全展現(xiàn)在光譜學(xué)的應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)緊湊
•服務(wù)和操作方面人性化設(shè)計(jì)
•低檢測(cè)下限-精度
•易于操作的Belec Win 21軟件
•開(kāi)放式火花臺(tái)
•富有吸引力的設(shè)計(jì)
•Belec人員的安裝和指導(dǎo)
Belec IN-SPECT—應(yīng)用
是富有吸引力的中小企業(yè)的伙伴
Belec IN-SPECT是所有中小型企業(yè)具有吸引力的合作伙伴。 標(biāo)準(zhǔn)配置的惰性氣體流動(dòng)的光學(xué)光譜室,和對(duì)分析要求的不斷優(yōu)化使得設(shè)備富有吸引力。同時(shí),Belec IN-SPECT為用戶提供了高性能和準(zhǔn)確性。
連同其它配件一起,設(shè)備顯示了一個(gè)真正的分析單元,取代傳統(tǒng)的笨重而龐大的系統(tǒng)。
集成光譜儀,包含5GSO系統(tǒng),由BELEC工程師設(shè)計(jì),可以在任何類型的光譜線同時(shí)應(yīng)用時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)相互的干擾。
從現(xiàn)在開(kāi)始,每日的校正程序已經(jīng)成為歷史,新的MCDC系統(tǒng)(多信道漂移校正)可以自動(dòng)實(shí)現(xiàn),一次漂移校正可以在幾個(gè)星期內(nèi)保持良好的結(jié)果。
小巧且美觀
Belec IN-SPECT 適用于實(shí)驗(yàn)室操作。所需空間小,使得可以將儀器放置在幾乎任何可能的位置。
德國(guó)Belec貝萊克新型緊湊型固定光譜儀 IN-SPECT
光學(xué)
•帕刑-龍格裝置光譜室
•羅蘭圓直徑300mm
•可用波長(zhǎng)145-410 nm
•光柵,3600線/ mm
•色散率0.9 nm / mm(1次)
•耐沖擊
•恒溫探測(cè)器配備波長(zhǎng)入射窗口(US許可)
•集成噪聲補(bǔ)償
•寬7μ像素優(yōu)化線分離
•一個(gè)基體模塊完全校正,延伸到幾乎無(wú)限的額外基體模塊
•無(wú)限數(shù)量的元素信道
•惰性氣體光譜室?guī)艋到y(tǒng)
•可選配置為:真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室
光源
•火花發(fā)生器的*大頻率400 Hz
•單極放電
•通過(guò)軟件控制預(yù)火花參數(shù)和集成數(shù)據(jù)參數(shù)
•通過(guò)軟件控制點(diǎn)火頻率程序
•通過(guò)軟件控制放電功率程序
•點(diǎn)火電壓20 kV
測(cè)量臺(tái)
•為分析的氬氣流測(cè)量臺(tái)
•火花測(cè)量臺(tái)上帶Ø10mm分析口,可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片
•可配合線材、管材和小零件的適配器使用
•低損鎢電極
•氣動(dòng)試樣夾具
•氬氣流量待機(jī)時(shí)0.1 l / min,分析時(shí)2 l / min
•免維護(hù)
電子器件
•10個(gè)探測(cè)器,每個(gè)3648像素,寬7μ像素
•溫度穩(wěn)定,到0.1°C
•每個(gè)探測(cè)器都有獨(dú)立的AD轉(zhuǎn)換器,安裝在多通道板上,以高速通用USB端口連接
•集成噪聲抑制 - 集成背景補(bǔ)償
•無(wú)限數(shù)量的測(cè)量信道,可配置多個(gè)基體
尺寸
•寬30.5英寸(775毫米)
•高14.9英寸(380毫米)
•深度23.6英寸(600毫米)附加6.1英寸(155毫米)的火花臺(tái)
重量
•分析單元152.1磅 (69kg)附加顯示器和鍵盤
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•100 W待機(jī)時(shí)
•600 W分析時(shí)
真空系統(tǒng)電源(可選)
•600 W待機(jī)時(shí)
•1100W分析時(shí)
計(jì)算機(jī)硬件
•系統(tǒng)集成工業(yè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
•Intel®Core®Duo T7400(2.16 GHz,4MBL2)
•2 GB DDR2 SD RAM內(nèi)存
•2.5“硬盤*少60 GB
•19“彩色顯示器,其他尺寸也可用
•全尺寸外接鍵盤
•USB 2.0端口
•以太網(wǎng)接口
軟件
通用操作系統(tǒng),例如MS Windows 7
•遠(yuǎn)程服務(wù)系統(tǒng)(RSS)
•每次測(cè)量都會(huì)顯示分析值
•可以根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)不同分析程序
•每個(gè)分析程序都有獨(dú)立的分析參數(shù)
•自動(dòng)選擇程序(APF)
•分析計(jì)算:背景修正,曲線位置修正,乘和加相互修正
•以標(biāo)準(zhǔn)類型進(jìn)行自動(dòng)修正(類型校準(zhǔn))
•容易同時(shí)進(jìn)行多個(gè)程序的重校正(BGR)
•混料分選通過(guò)與參考工件的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行比較
•牌號(hào)分析是與預(yù)設(shè)的牌號(hào)范圍進(jìn)行比較
•類型校正和類型測(cè)量
•每個(gè)分析程序在相對(duì)和含量的公差,可調(diào)整
•可選測(cè)量結(jié)果的平均和標(biāo)準(zhǔn)偏差
•當(dāng)數(shù)據(jù)超過(guò)校正曲線時(shí),會(huì)有報(bào)警信號(hào)
•輕松的同時(shí)重新校準(zhǔn)幾個(gè)程序
•通過(guò)使用MCDC(多信道漂移校正)延長(zhǎng)重校正所需的周期
•自動(dòng)提示定期重校正
•自動(dòng)顯示牌號(hào)或物料號(hào)
•合金號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)可達(dá)100.000個(gè)或以上(取決于計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)量)
•顯示器上文字的大小可變,以達(dá)到清晰度
•自動(dòng)存儲(chǔ)功能
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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